【讨论】过快的冷却速度会不会导致钯的记忆效应

这个问题未遇到过，我们也不做钯呢
做其他元素有这种现象吗

其他元素没有发现这种情况。钯做催化剂，所以要测钯的残留。

没遇到过。。。

好话题，没做过钯，期待高手来分享经验

可以验证以下：Pd的原子化温度2400，可以把清除阶段的温度设定为2800或者两次做样之间空烧一下，看看此问题还有没有了。如果问题解决了，可以试着降低清除阶段的温度，找到一个合适的值，来保护石墨管。

我那台仪器是比较老的热电M6型号，采用的是纵向加热，所以我才猜想是不是冷却水下降的很快的话，石墨管两端的温度比中间的温度要低很多，在原子化阶段，产生的钯会在石墨管的两端残留点，致使下一次的吸光度比上一次的高。

平时我们做钯实验时，原子化温度2500，清除阶段的温度为2700，还是发现有这种情况。

可以调整清除阶段内气路氩气流量来判断一下，适当增加氩气流量看看有没有改善。

应助工程师

个人觉得应该不是这个问题，在原子化合出残后应该就全部清除了，要是靠后面那个温度来除去残留的钯似乎不大合逻辑吧