无机麦地
第9楼2011/05/29
液体进样:10秒钟内进入炬管的溶液质量为=36.83 pg; 产生计数为60万
LA进样:那么10秒钟内进入炬管的U元素质量8.116 pg 产生计数30万
我认为这与元素在ICP火炬中的离子化效率没有关系。ICP火焰的温度达到5000到10000度,这足以把进入火焰中的原子离子化了,因为U的第一电离能不高,其离子化效率应该大于90%(没有找具体数据),其中也能够把H2O等离子化。
至于信号为什么会比LA的低,我认为时基体效应
溶液进样的其中含有大量其它的原子,如H2O等,它在等离子膨胀过程中U离子的浓度比LA(气溶胶中间夹带的其它离子较少)中的要大,所以进入样品锥的U离子就比LA的要少,当然会表现在信号强度上面的差异。
溶液进样主要是雾化效率,及进入到ICP火炬中的样品较少,不像LA一样大部分激发的原子都能进入ICP中原子化。
所以我认为它们之间是不好比较的。。
timstoicpms
第10楼2011/05/29
溶液进样主要是雾化效率,进入到ICP炬焰中的样品较少;激光剥蚀的气溶胶大多能被ICP电离。所以我认为它们之间是不好比较的。。
~~~~ 正文就是在阐述 the sensitivity beyond the introduction system。排开进样系统、从炬管开始的灵敏度,有啥不好比较的?
ICP火焰的温度达到5000到10000度,这足以把进入火焰中的原子给离子化了。因为U的第一电离能不高,其离子化效率应该大于90%(没有找具体数据),其中也能够把H2O等离子化。我认为这与元素在ICP炬焰中的离子化效率没有关系。
~~~~ 你要明确两个概念:①待测元素的原子能否被Ar-base ICP电离,取决于它们的一级电离能是否小于 Ar+=15.76eV;② 百分之几的原子被电离(即电离效率),则取决于ICP炬焰温度在三维空间的分布情况。这就是为什么:减小采样深度或者添加屏蔽圈,都能改变ICP炬焰的温度分布,进而提升灵敏度。
至于信号为什么会比LA的低,我认为是基体效应。溶液进样时含有大量其它的原子(如H2O等),它在等离子膨胀过程中U离子的浓度比LA(气溶胶中间夹带的其它离子较少)中的要大,所以进入样品锥的U离子就比LA的要少,当然会表现在信号强度上面的差异。
~~~~ 等离子体膨胀是发生在样品锥与截取锥之间的扩散区(Expansion chamber)。根据你的回帖“所以进入样品锥的U离子就比LA的要少”,我推断:你可能认为等离子体膨胀是发生在样品锥前。很显然,样品锥前是标准大气压,不可能发生膨胀。