德国X射线衍射仪 D8 ADVANCE 价格？

有没有现在论坛里搜一下该类仪器？

D8 ADVANCE 的价格依据不同的配置会有较大的差异。300,000EUR左右吧

准备抢劫还是两台价格？

比扫描电镜还贵？不至于吧

X射线衍射仪---D8 ADVANCE

X射线衍射(XRD)是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质结构表征，以性能为导向研制与开发新材料， 宏观表象转移至微观认识，建立新理论和质量控制不可缺少的方法。通过对置于分光器（测角仪）中心的样品上照射X射线，X射线在样品上产生衍射，改变X射线对样品的入射角度和衍射角度的同时，检测并记录X射线的强度，可以得到X射线衍射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系，可以进行物质的定性分析、晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高和峰面积也可进行定量分析。除此以外，通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析，还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。

1. 主要性能

D8型X射线衍射仪系列是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统。它的设计精密、硬件、软件功能齐全，能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等。仪器包括陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。

2. 技术指标

最大输出功率：≥2.2 kW；电流电压输出稳定性优于0.005% (外电压波动10%)时；X射线防护：国际安全认证，射线剂量≤0.2μSv/h。

光管类型：陶瓷X光管，Cu靶，其他靶材可选，更换无需校准；光管功率：2.2 kW；长细焦斑：0.4×12mm；最大管压：60kV；最大管流：80mA；

测角仪：采用步进马达驱动和光学编码器技术，扫描方式θ/θ或θ/2θ测角仪；最小步进角度0.0001 ^o；角度重现性0.0001 ^o；

扫描角度范围2θ＝-110 ^o ～168 ^o；最高定位速度 ≥1500^o/min。索拉(Soller)狭缝：0.02, 0.04, 0.08 rad。

探测器：闪烁晶体计数器；动态范围≥2×10⁶ cps；背底噪声＜ 0.5 cps。固体探测器：锂漂移硅能量色散型；测量范围2keV ～ 30keV；能量分辨率： E ≥279 eV。

系统软件：系统控制和数据采集软件；物相检索软件及数据库；粉末衍射全分析软件包（相分析软件、物相定量分析软件；精密测定晶胞参数；样品中无定型含量；微晶尺寸和（或）微观应力分析软件；结构精修和面间距与角度计算；模拟复杂混合相或单相的无标定量分析）；残余应力分析软件；晶粒度分析软件。

3. 应用范围

D8 ADVANCE型X射线衍射仪集成最先进的技术提供了完善的衍射解决方案，可进行如下工作，物相检索；物相定量分析；嵌镶尺寸（晶粒大小）及微观应力（晶格畸变）测定；线形分析：除函数拟合法外，含独家开发的基本参数法分析软件，用作物相分析、点阵参数测定等数据处理前进行线形优化处理；Kα剥离、数据平滑、傅立叶变换、3维图形功能等。广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体，为科学研究提供准确可靠的数据。

4. 样品要求

来样标明名称、来源、主要成分、待测样品包含元素；

固体粉末：大于1g，建议事先处理300目左右。

　　型号: D8 Advance

　　生产国别厂家：德国Bruker公司

　　主要技术指标：

　　 额定输出功率3kW;

　　 电流电压稳定度优于±0.005%;

　　 高精度步径式马达控制双圆测角仪，测角仪半径≥200mm，2θ转动范围-10°～168°，可读最小步长0.0001°，角度重现性0.0001°；林格斯一维探测器，动态范围>1×109cps，背景<0.1cps

　　主要用途：

　 　1. 物相定性分析（粉体、块体与薄膜等）

　　 2. 物相定量分析

　　 3. 精确测定点阵常数

　　 4. 晶粒大小及晶格畸变测定

　　 5. 颗粒大小及其分布测试

　　 6. 薄膜厚度（<100nm）及粗糙度测试

　　 7. 物质相变测定

　　Specifications:

　　 X-Ray Source: Non-monochromated Cu Kα X-Ray

　　 (Running condition : 40kV, 40mA)

　　 (Rated output power: 3kW, Current and Voltage Stability: <±0.005%)

　　 Detectors: NaI Scintillation counter detector

　　 LynxEye 1D detector(dynamic range>1×109cps,background<0.1cps）

　 Optics: Both Bragg-Brentano and Parallel Beam Geometry

　 　Gobel Mirror

　　 Goniometer: High precision microprocessor controlled, two circle goniometer with independent stepper motors and optical encoders; Goniometer radius: ≧200mm; 2θ: -10°～168°

　　 Smallest angular step size: 0.0001°

　　 Reproducibility : 0.0001°

　　 Sample Stage:Standard Stage

　　 XYZ motorized sample stage with Vacuum Chuck

　　 Motorizing Rotating Reflection & Transmission Sample Stage

　　 Attachement: High Temperature MRI stage (RT-1600°C)

　　 Low Temperature MRI stage (-180-450°C)

　　Application:

　　 Phase Identification (Powder, block and Thin Film)

　　 Phase Quantitative Analysis

　　 Structure Refinement

　　 Precise determination of lattice constants

　　 Determination of crystalline size and lattice distortion

　　 Small Angle X-Ray Scattering Determination of Particle Size and Size Distribution

　　 Thin Film Analysis : Roughness, Thickness(<100nm)

　　 In-situ Phase Change Detect under High Temperature Conditions

主要功能及技术指标

本实验测试分析系统是通过对置于分光器（测角仪）中心的样品上照射X射线，检测并记录X射线的强度，可以得到X射线衍射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系，可以进行物质的定性分析、晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高和峰面积也可进行定量分析。除此以外，通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析，还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。
技术参数 技术指标
光管类型 封闭型X光管 Cu靶
最大管流 80 mA
测角仪 采用光学编码器技术
最小步进角 0.0001
角度重现性 0.0001
最高定位速度 1500/min
探测器类型 半导体阵列探测器
温度范围 室温~1600℃
控温精度 ±0.1℃

他在胡扯，什么都不懂，最多19W刀。