EDS中的死时间？

只是一个和输入计数率和处理时间有关的概念。能谱对输入的数据进行处理需要时间，时间越长获得的结果越好，谱线分辨率越好。而信号的输入量越多则仪器计数量越大分析速度加快而且对分析微量元素有帮助。但是这两者会产生一个矛盾的。过大的输入量会使得仪器由于处理时间过长而处理不过来，如果不加限制就会影响仪器对数据的处理，这时仪器就会停止外界的数据输入，产生一个仪器不接收外界数据的死时间。降低处理时间会使死时间减少，但也会使谱线分辨能力下降；减少输入量也会使得死时间减少但信号量可能不够。因此我们要调整好这些量，不是输入计数率越高越好，也不是处理时间越高越好。维持一个平衡值才能获得最佳效果。我们在最求一个极限时必须要牺牲另外的东西；只有调整到一个平衡值才能获得最佳的效果

死时间： 能谱仪进行信号处理的时间，或者说拒绝接收输入计数的时间，占全部时间的百分比,或用数学表达式，死时间%=(输入计数率—采集计数率)/ 输入计数率 *100% 。 资料来源：牛津能谱操作手册 13页 资料网址：http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20080710/1348425/
死时间：处理器无法测量其他脉冲时间的总和。以百分数表示。（2005年牛津仪器培训讲义）
死时间：计数测量系统处理一个脉冲信号后，恢复到能处理下一个脉冲信号所需的时间。以百分数表示。（2006年牛津能谱培训资料）
我的理解：
计数测量系统在处理前一个脉冲信号和恢复过程中，不可避免地丢掉后续到达的X-射线光子，丢掉的X-射线光子由快道鉴别器计数；另外，两个相近的X-光子也由快道鉴别器计数，为防止出现和峰暂时不进行处理。当计数到256时，系统对256个计数进行处理，这256个计数占总计数的百分比就是死时间。系统对256个计数进行处理需要一段时间△t,在△t时间段内系统停止接受x-射线光子。所以当输入计数率太高时，系统忙于处理256个计数而不能检测实时到达探测器的x-射线光子，这时死时间趋近100%，活时间趋近零。这样解释才符合输入—采集计数率关系曲线。

解释的很详细，不愧是能谱高手

上面“我的理解”是根据“电子显微镜X射线能谱分析原理（john C.Russ) 1983年”的一段文字而写的。该段文字如下：
要获得尽可能好的比例关系,就要使用长的时间常数,这是将系统中热的和电的噪声进行均分的经典方法.我们可得到顶部光滑的脉冲,并可以测量它.如果我们有一个时间常数很短的放大器,我们也可以通过它得到脉冲,但是不能精确的测量脉冲的高度.这时的脉冲高度很不稳定,但是仍有一个脉冲.这样我们有一个总脉冲宽度为60-80微秒的慢速通道, 有一个总脉冲宽度不到 1 微秒的快速通道,我们不去测量这些脉冲,我们仅仅利用它.当X-射线到达时做出指标,当快速通道记数达到256时,（系统停下来）将这一记数做为慢速通道脉冲高度补进样品的扫描点.该扫描点为当前扫描点.所以扫描速度不能太快.

应助达人

采集计数率是可以看得到的那个数值吗？输入计数率是什么？谢谢林老师和冯老师的解答。

过去我们讲“输入计数率、输出计数率”，现在更喜欢用“输入计数率、采集计数率”，有时也用“输入计数率、获取计数率”。看得到的那个是采集计数率。输入计数率是到达探测器的x-光子的计数，采集计数率是经过计数测量系统处理过的x-光子的计数。

应助达人

通常我们所说的CPS是多少，是指输入计数率还是采集计数率？

看来cps并没有特指，在有些场合几乎是默认的指采集速率。

我一直也想不太明白.请问机器处理信号需要的时间是否是死时间的一部分呢?我是这样理解的:开门时间+处理时间+关门时间=死时间.就好比宾馆接待客人.客人走了后要打扫房间.时间常数指的是这其中的处理时间.机器在处理当前脉冲时应该不能接受该时间段内来的新脉冲.即使处理完了该脉冲,可能需要休息一下,才能接受下一个脉冲,在这休息期内,恐怕也不能接受新脉冲.不知大家意见如何,因为我看了好多书,觉得没有讲清楚.我就自圆己说了.