四探针电阻率测试仪

sanjingjj

2011/08/26

私聊

紫外可见分光光度计（UV）

四探针电阻率测试仪。

XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：

1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。

数字电压表量程：0—199.99mV

灵敏度：10μV

输入阻抗：1000ΜΩ

基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、可测电阻率范围：10^—4 —1.9×10⁴Ω·cm

可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。

2、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。

3、流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。

4、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

5、加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

6、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。