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求助：颗粒增强铝基复合材料透射电镜观察制样

透射电镜（TEM）

  • 材料为SiC颗粒与6066铝粉混合经粉末冶金工艺(冷等静压、包套抽真空、热挤压、热处理等工序)制成。
    透射电镜观察的样品处理：从样品中采取线切割得到0.5mm左右的薄片，在砂纸上手工磨到0.2mm,然后用磨凹仪继续减薄，最后到离子薄化仪上减薄穿孔。
    存在的问题：透射电镜下观察，部分SiC颗粒周围存在孔隙。这种孔隙可能有两种来源：一是材料制备时本身存在的孔隙；一是离子薄化可能造成的。现难以区分造成孔隙的原因，这对判断复合材料的界面结合情况不利。
    问题：对于颗粒增强铝基复合材料透射电镜样品的制备，除了采取离子薄化这种方法之外，有无其他方法制备？
    请相关方面的专家帮忙给与解答。非常感谢！欢迎大家在此讨论颗粒增强铝基复合材料金相试样、透射试样制备的讨论。
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    +关注 私聊

  • 天黑请闭眼

    第1楼2006/03/02

    没做过类似的样品，化学腐蚀可以用否？叫什么双喷来着？

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    +关注 私聊

  • wwmdavid

    第2楼2006/03/02

    电解双喷据说不行。因为SiC陶瓷与铝基体的电解速度差异较大，喷出的薄片薄区是SiC颗粒形成的网孔，基体基本不存在，不能反映实际的复合材料组织。

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    +关注 私聊

  • wenyan0098

    第3楼2006/03/03

    好判断，如果孔的边缘很薄，则为离子减薄的。反之，则材料本身的孔

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