惭愧的问，XPS和EDS有什么区别啊？

怎么和你联系啊?

这是我的邮箱：xxandbb@163.com
请指教！

我看一本书说XPS的检测陷是原子含量0.1%

谢谢版主！我还想再问个问题，XPS是不是只能得到固体样品表面几个纳米深度的信息，我想测的元素可能是存在于样品表面几个纳米深度之下，这样还能测到吗?或者采用什么制样方法，可以避免溅射无用的表层。

不用客气。你得短信我已经看到，其实我也才搞XPS几个月。WUZL斑竹才是高手。
我看 文章上面说XPS一般采样深度为几个纳米，如果用角分辨XPS可以到十几个纳米，用深度剖析可以达到几百个纳米。缺点时前者操作麻烦，后者Ar离子有还原里面得氧化物得可能。如果你是怕表面被污染，那可以直接用刻蚀掉表面，但是它也有还原里面得氧化物得可能。

是什么啊，我也想知道

[quote]原文由 feixiong5134 发表:不用客气。你得短信我已经看到，其实我也才搞XPS几个月。WUZL斑竹才是高手。
我看 文章上面说XPS一般采样深度为几个纳米，如果用角分辨XPS可以到十几个纳米，用深度剖析可以达到几百个纳米。缺点时前者操作麻烦，后者Ar离子有还原里面得氧化物得可能。如果你是怕表面被污染，那可以直接用刻蚀掉表面，但是它也有还原里面得氧化物得可能。

谢谢feixiong5134的回答，对我很有帮助。不过还原氧化物是我不想发生的，那我有没有其他的办法，比如改变制样方法？我记得好像有人将样品制成粉末，各个成分混合均匀然后再制备成测试样，这样测表层就可以得到想要的信息了。不知道这样可行吗？
BTW，WUZL斑竹如果有空看到这个帖子能不能给做些指点啊，多谢了！

我也不懂啊，希望哪位高人能指导一下啊！我的邮箱地址是yanxp1973@126.com

偶是菜鸟,我想知道XPS能不能用于测量煤中的汞元素呢,请大虾们指教!我的邮箱:ascker@sina.com