anye365
第2楼2011/11/09
但有些网上的资料是这么写的哦,看第2点:
132.用熔融法进行XRF分析,除去仪器本身产生的误差外。在制样过程中,哪些环节对测量结果的准确度有较大影响?如何消除这些产生误差的因素?
(1) 我觉得主要是烧损和表面.
(2) 样品冷却越迅速,对结果影响越大。
(3) 我觉得样品的预氧化对准确度(对S和AS)的影响也很大,还有试样的组成情况对全铁影响也不小
(4) 当前主流XRF综合稳定度均优于0.1%。因此XRF分析误差主要由样品所引起,更确切地说,是由于制样产生的样品高度误差以及样品定位误差所引起。有关实验表明,采用铂/金坩埚铸型的自动熔样机制备的玻璃熔片,表面曲率的变化导致的样品定位误差可高达100微米。有些粉末压片后分析表面可能因膨胀而出现弯曲(例如含高硅的样品),富含碳酸钙的样品有时也可能发生弯曲。近来,一些XRF主力厂商纷纷将其新品由上照射方式改为下照射方式,一是简化XRF结构,更重要的考虑则是减小样品定位误差。