薄带样品做TEM观察截面，该如何制样？请高手指教

你也可以试试电解双喷或离子减薄，你的样品脆吗？如果比较脆，研磨一下也行。

如果只是想看结构，研磨即可。如果想看高倍的形貌，扫描电镜。如果想看低倍的TEM图像，直接固定样品到微栅或者碳膜上即可。
打磨或者切片是不是太麻烦了？

没有做过TEM,知道的很少。还想了解得细一点：

电解双喷和离子减薄具体是怎样进行的呢？
我的样品是比较脆的。制备态为非晶合金，具有柔韧性；经过热处理之后，样品变脆，因为非晶基体中生长出了纳米晶粒，大概几十到上百纳米。晶粒的分布和尺度的大小决定了样品的某些性能。想看到样品中晶粒分布的情况，以及晶粒的大小，该怎样测，研磨能做到么？要磨多细？

Thanks!

是想看非晶基体中晶粒的大小和分布情况。晶粒尺度大约几十到上百纳米。SEM和TEM那个能达到我的目的呢？如果用扫描电镜，样品要如何处理；如果看低倍的投射电镜，样品是不是也要处理一下？以前从未做过，所以问题比较多


Thanks！

从你得要求来看，可以看EBSD，或者用ustb版主说得方法处理样品后高分辨TEM观察了。