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[讨论]过焦还是在欠焦

  • hunterwang
    2006/04/22
  • 私聊

透射电镜(TEM)

  • 常规的TEM成像或衍射操作,大家习惯是调节亮度旋钮让beam过焦还是欠焦?Goodhew说永远让beam处于过焦状态,这样得到beam更平行,总觉得没有道理。实际操作感觉区别不大。不知道各位的习惯是什么?
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  • hunterwang

    第1楼2006/04/23

    Rodenburg said:
    the system is usually designed in such a way that the illumination is parallel at the specimen when the intensity (C2) knob is high.
    http://www.rodenburg.org/guide/t1100.html
    Peter Goodhew sadi:
    when overfocused, beam convergences substantially because electrons come from only cross-over only
    http://www.matter.org.uk/tem/lenses/beam_convergence.htm

    个人觉得Rodenburg的解释更合理,见他网页中的ray diagram

    hunterwang 发表:常规的TEM成像或衍射操作,大家习惯是调节亮度旋钮让beam过焦还是欠焦?Goodhew说永远让beam处于过焦状态,这样得到beam更平行,总觉得没有道理。实际操作感觉区别不大。不知道各位的习惯是什么?

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  • 怪味陈皮

    第2楼2006/04/23

    调整电镜状态和使用时C2都是处在过焦状态(右旋,强度变弱),过焦状态时的照明孔径焦比欠焦时的照明孔径角小,因此相干性比较好。如图,照明孔径角的确定。a是正焦,b是过焦,c是欠焦


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  • hunterwang

    第3楼2006/04/23

    仔细看了版主的图,明白了问题的关键在于spot size即cross-over的大小,在过焦状态下,spot size和cross size最小,因此,从cross-over照向样品的发散角也小。但其实总的电子束发散角是最大的(与其它两种聚焦状态相比),因此强度更弱些。
    非常感谢。

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