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Si元素曲线偏离

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • 大家好，我公司所用为岛津1800，做硅铁中的si 曲线时，截距在负轴上，用含硅量分别是47%，51%、68%、72%、79%，我们有通过标刚配出了59%的Si加到曲线上，但是还是斜率不是很好，请问大家有什么好方法可以将曲线矫正过来，做好接近原点，我们用的是压片法
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  • 里海

    第1楼2012/07/16

    你的样品成分波动太大了，用粉末方法曲线效果不好，建议用熔融方法试试；截距为负值应该没问题，截距和斜率只是荧光浓度与强度对应的关系

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  • 19栋

    第2楼2012/07/16

    我们没有熔融机，只能用压片法，样品在密集点能把斜率调整过来吗

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  • XRF_INFO

    第3楼2012/07/16

    SiFe只能用压片法，但是不能配置标样，硅铁的标样自己很难配好的。

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  • 里海

    第4楼2012/07/17

    这是为什么呢？

    XRF_INFO(xrf-info) 发表:SiFe只能用压片法，但是不能配置标样，硅铁的标样自己很难配好的。

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  • 里海

    第5楼2012/07/17

    你把曲线发上来看看啊，加标样是一个方法

    liupanpan_ccut(liupanpan_ccut) 发表:我们没有熔融机，只能用压片法，样品在密集点能把斜率调整过来吗

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  • zhangjiancn

    第6楼2012/07/27

    一般测量硅用PET晶体，而该晶体受温度影响较大，如果不能控制环境温度就会出现偏差。

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