程序升温空白出现鬼峰的案例分析

应助达人

故障原因的判定：




类似于HPLC梯度洗脱空白的鬼峰，该故障常见的原因是流动相的污染（即载气的污染）。污染源重点要去怀疑进样口和进样口附属管路。




SPL的结构图：







首先值得怀疑的是载气管路的分子筛管。分子筛管内填充了较多分子筛颗粒，表面积极大。载气在进入进样口之间，先通过分子筛净化，如果载气不良，或者仪器使用时间超长，分子筛吸附杂质饱和，分子筛就变成了污染源。

理论上讲，污染物比较有可能在表面积较大的部分富集。

分子筛图片





其次，分流出口的缓冲管、捕集阱也有污染的可能。



分流出口的缓冲管和捕集阱，在使用过程中也不断的在吸附杂质，也有可能带来污染。进样的时候，样品受热膨胀，可能会将缓冲管中凝结的污染物回带给进样口。



捕集阱的图片

应助达人

　　处理的方式：
　　
　　清洁处理分子筛管。
　　用溶剂清洗缓冲管及连接管路。若果需要，再高温处理一下。
　　
　　 捕集阱一般需要更换。
　　
　　
　　 工程师现场一般采用火焰灼烧的方法，比较快速。分子筛耐温600度，一般的火焰不会造成分子筛破坏。
　　
　　 将SPL进样口设定为直接注入方式、恒流量控制，输入大约30ml/min流量，用酒精灯灼烧管路。
　　
　　 色谱仪流量界面：





如果系统较脏，在灼烧分子筛管和缓冲管的时候，可以看到出口有烟雾流出。



灼烧分子筛管图片：





反过来再说一点，空白的测试方法。



不进样启动程序升温，或者是进样空气？有一点差异。



进样空气（进样数微升的空气即可）出现鬼峰，不进样启动程序升温的时候没有鬼峰。这种情况下，污染物可能在分流出口管路中。



高温处理后，进样测试，发现第一次空白测试时，鬼峰的保留变短。幅度可能会增大。





再次进行几个空白程序升温，鬼峰明显减小。如图

应助达人

　　污染来源的推测：
　　
　　 分子筛吸附的杂质可能与载气有关。

分流出口的污染物可能来源于样品。随着进样过程进入色谱柱。

　　
　　 另外：m/z=149的鬼峰也比较常见，怀疑与邻苯二甲酸酯类有关系。消除的方法比较类似。
　　
　　 m/z=149碎片的物质可能来源于环境中增塑剂类物质的污染。

应助达人

鬼峰有时候很难判断，楼主这个案例分析写的很好，值得借鉴。

应助达人

萘和邻苯类是很容易污染系统，有时候很顽固，特别是极性柱子更容易残留。

应助达人

多谢。

萘的来源比较可疑，是载气、样品还是环境呢？

想问一下楼主，第一张图后面基线出现漂移，是怎么回事儿呢？是不是正常现象呢？

应助达人

基线漂移是程序升温时，色谱柱本底信号逐渐增强的信号。


只要漂移幅度不太大，一般是正常的。

哇，安老师也是大拿。向安老师学习。