X射线荧光光谱仪(XRF)
sonne86400
第1楼2012/08/22
这个可以这样理解啊 你压以后就更紧了啊 x荧光本来就是表面半定量分析 x光照射的厚度不同啊 计数率也会不一样 表面的材料是不是均质的你也没有办法把握 所以出现这个结果很正常的啊
gxglkml
第2楼2012/08/22
那么应该怎么处理好这样的问题呢?
里海
第3楼2012/08/22
样品的均匀性没问题吧,一个样品的结果不应该差那么多
第4楼2012/08/23
均匀性应该没问题粒度也是在200目左右
第5楼2012/08/23
如果你采用同样的压片方法分析结果会不会有偏差呢
第6楼2012/08/23
同样压片方法的结果的偏差很小但是我们的分析人员有八个,每个人的习惯不一样,用勺子稍微压一压样品的结果就相差那么大,还有其他的影响因素,那么分析结果的准确性就太差了想找找原因
第7楼2012/08/23
那你尝试一下其他制样方法吧,比如说用铝杯、钢环、硼酸等,然后尝试改变压力、保压时间,多做些重复性实验,即使不同的人做结果也不会相差过多
CC❤YY
第8楼2012/08/24
纯属建议!操作人员的操作水平怎么样?每个人都做的合格吗?这个是不是该考虑一下。
qianguiyun1
第9楼2012/08/24
应该保持一致的操作方法。X荧光只是测量样品的表面,楼主的这两种方法必然会使样品表面的密度不同由此产生的结果会有偏差。
whoami
第10楼2012/08/26
太粗了!200目的话是小于75um。磨的再细一些。
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