关于样品被击穿的问题

你是指的射线穿透样品吧，轻基体的样品容易被穿透，尝试一下将样品厚度增加会不会好些呢

是啊，主要成分是有机物，好像特别容易被击穿。后来增加了压片时的用量，堆得跟座小山似的，还是不行，样品台上的元素（如镍）都被检出来了。估计这种基质光靠增加厚度可能不行！该怎么办呢？

还有就是，这样的话我的检测结果（如钙）还还准确吗？

你的是波普的吧 你压片压力多少吨的啊 不行就用能谱试试看 在不行就上ic p测试 你的大致含量是多少呢 你样品是粉末状的吗

这个问题还真的不知道怎么处理呢，嘿嘿，要不给你出个馊主意，用你的样品加上点其他已知含量的东西，按比例混合均匀后在压片测量，最后折算样品的含量

zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:是啊，主要成分是有机物，好像特别容易被击穿。后来增加了压片时的用量，堆得跟座小山似的，还是不行，样品台上的元素（如镍）都被检出来了。估计这种基质光靠增加厚度可能不行！该怎么办呢？

还有就是，这样的话我的检测结果（如钙）还还准确吗？

应助达人

垫东西的方法肯定不可行，那你测试的就不是原来的样品了，而是该样品和聚乙烯板的混合物。

其实不用做什么处理。因为XRF得到结果实质上都是比较得到的。只要你的标样材质、厚度和样品一致，定量的结果就没有什么问题。

轻基体对X射线的荧光吸收很弱，导致样品深处的原子信息也可以被探测到，但实际上由于激发X光通常都不是正入射的，检测器的窗口也不是正对着样品，实际测试到的试样空间犹如一个楔子，所谓的楔子效应（Wedge Effect）.
对这种问题，解决办法有两个：
（1）对有检量线的做法，保持标样和实际样品一致即可，反正是在作比较，楔子效应就会被消除；
（2）对于基本参数法的，理论上来说，计算模型应该考虑到此类情况，用户需要输入样品的厚度，以便软件按照内部的模型处理。

话说回来，样品太薄了肯定也不是什么好事情，这会导致信号太弱。建议叠厚处理。

是波长色散的仪器，压片我看了一下，指针是20t不知道是不是这个。样品是可以用ICP做没问题啦，但不是前处理麻烦嘛，我原来想用XRF代替做的。是粉末样品，大概600-1300ppm吧，就浓度来说是可以用XRF做的，但遇到了击穿的问题，有没有办法解决呢？

波散的仪器一般功率都比较大都是过千的瓦数 击穿你的样品很容易 建议 你用edx扫扫看 他的功率比较小 五十瓦左右 这个含量用xrf测出来不难的 能散压片 压到10-15吨 加厚点试试看

压个硼酸片放在上面即可！

硼酸也不错 可以让样品变硬 密度变大 可能会有效果 不妨试试看