对XRF测颗粒物中无机元素标准的一些疑惑

眼花，记得有电子版吧！

应助达人

确实有电子版。 http://www.zhb.gov.cn/gkml/hbb/bgth/201603/t20160322_334053.htm
我发布的图片颁布，是我不能理解的。

应助达人

第二、三张图太模糊，无法辨识，第五张图里更换P10气后是建议做检查检测器，仪器操作规程里有提，原因是担心P10气质量波动，影响流气探测器。第四张图里的10%是质控要求吧，应该在相关的总则里有。

好帖子， 要支持

应助达人

谢谢老师，附件我上传了该标准的征求意见稿。以下是个人对标准的疑惑，看了编制说明更迷糊


第一/二张图：
问题1. 标准曲线用有机材质膜，样品用有机膜/石英模，不一致？
问题2. 采集在特氟龙上的颗粒物负载量不超过100 vg/m3(对现场采样的要求是否有点高呢？)，负载的颗粒物要均匀分布在直径至少30 mm范围(不知采样器能否满足？另外，环境空气中颗粒物浓度、粒径及无机元素的含量都是变化的)。负载颗粒过多使样品背景增大，由此带来的基体效应影响定量分析结果的准确度(建立标准曲线时不考虑这些基体效应吗？)
问题3. 石英滤膜颗粒物样品需用直径为47mm圆刀裁剪成直径为47mm的滤膜圆片（没有操作过，不知操作难度？）。
第三张图：
问题4. 校准样品测量选择一个空白滤膜，2-3个不同含量的薄膜标准样品（该标准样品测量是用于寻找2倍角？数量少吗？）。
第四张图：
问题5. 实验室质控样进行校准曲线确认，每分析10-20样要对校准曲线确认（是否有点频繁？），质控样进行准确度验证——偏差或误差都要求10%，是否要考虑元素及含量等因素呢？



第五张图：
问题6. 更换P10气体后，建议复查Al、Si等与FPC等有关的元素测量条件PHA高低限，复查校准曲线。（老师说得我明白：更换P10后对光，疑惑是对Al等元素的PHA的高低限检查）
问题7. 滤膜样品表面要覆盖一层麦拉膜或聚丙烯膜(40 vm),以避免颗粒物调入样品室(措施确有必要，问题是它对不同特征射线的都有吸收。是否会对同一元素、不同浓度样品的影响不一样呢)。