【序号】：3 【作者】： Jie Lian et al 【题名】：Accurate interband-energy measurements from Ellipsometric spectra 【期刊名全称】：Optics & Laser Technology 【年、卷、期、起止页码】：Volume 35, Issue 1, February 2003, Pages 49–53 【全文链接】：Volume 35, Issue 1, February 2003, Pages 49–53
【序号】：4 【作者】：S. Marsillac et al 【题名】：A broadband analysis of the optical properties of silver nanoparticle films by in situ real time spectroscopic ellipsometry 【期刊名全称】：Thin Solid Films 【年、卷、期、起止页码】：Volume 519, Issue 9, 28 February 2011, Pages 2936–2940 【全文链接】：http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609010016093
【序号】：5 【作者】： R.W. Collins, Ilsin An, H.V. Nguyen, T. Gu 【题名】：Real time spectroscopic ellipsometry for characterization of thin film optical properties and microstructural evolution 【期刊名全称】：Thin Solid Films 【年、卷、期、起止页码】：Volume 206, Issues 1–2, 10 December 1991, Pages 374–380 【全文链接】：http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0040609091904546
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