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网络讲堂：9月16日最新镀层、薄膜表征工具-辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪

网络讲堂

2014/07/29

物性测试综合讨论

最新镀层、薄膜表征工具——辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪

讲座时间：2014年09月16日 10:00

主讲人：武艳红、王锋

武艳红，HORIBA Scientific 辉光放电光谱技术应用工程师。
王锋，HORIBA Scientific 椭圆偏振光谱技术应用工程师。

【简介】

辉光放电光谱和椭圆偏振光谱仪作为现在最常用的两种镀层、薄膜表征技术。前者主要应用于镀层元素的深度剖析，它能够获得镀层中各元素随深度的分布状况，可以分析几纳米~100多微米的深度，深度分辨率<1nm。后者是一种无损的分析技术，可以精确测量1A~40微米范围内的薄膜，并能表征单层、多层薄膜表面的粗糙度和氧化层，甚至可以获取折射率、消光系数等。

本次课程中我们将会介绍这两种技术的基本原理、可分析的材料，并对主要应用领域及案例进行深度分析。

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1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。

2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~

3、报名截止时间：2014年09月16日 9:30

4、报名参会：

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