用半导体定制机型 测常规项目,会把进样系统(这部分可更换清洗)和真空腔(这部分就没辙了)污染。
再举个例子,用于半导体测试的ICP-MS,必须要花2-3万做独立接地。独立接地可降低 [零地电压],进而降低供电系统对ICPMS检测器的电子噪声贡献。因为半导体测试时也就几百个cps,如果叠加上十几个到几十个cps的供电噪声,那是有很大影响的。但对于常规测试而言,[独立接地] 似乎可有可无。因为常规测试动辄是 上万cps到几百万cps,供电噪声忽略不计。
platinum(platinum) 发表:常规经验还是可以交流的嘛,用S的也可以做常规项目,只是有点大才小用吧。