同一样品荧光隔天测定结果出现波动，请高手帮忙

没人回复呢~

探测器和滤光片不是自己建立方法时候设置的吗》？应该不是这种问题，更多的原因应该在压片样品吸水或者测试样品本身的其他因素

我建立方法的时候设置，现在出现问题是熔片样品没发生变化，但是压片样品再次测试的时候出现很大的差距，我就不知道是不是只有测量压片时用到而熔片没有用到的硬件出现问题。

样品吸潮了

是压片结果两天对不上，但是融片结果波动较小么？如果是这样的话那么和硬件本身没有多大影响的，压片本身因为就不容易均匀，压片结果波动较大也比较正常，毕竟不能像融片一样消除矿物和粒度效应的。

应该不是这个问题，我保留了几个原始压制好的样品，测试时发现是有时候整体偏高，有时候是整体偏低（都是相对于第一次测试的结果比较）

以前做过测试，同一个压片，测试结果几乎 没有波动的。 现在的状况是，测试同一个压片（应该可以排除矿物效应和粒度效应吧），结果出现波动。

那么压片的环境和测试环境有没有发生变化呢？有没有可能此测试样品本身就不稳定？

压片环境和测试环境没什么变化。样品为高炉渣，具体样品本身性质有没有发生改变我也不算很清楚了。。。