RoHS/WEEE指令
george
第1楼2006/09/28
在XRF测量中经常会有干扰存在，看看你的样品是否有其它干扰Cd测量的元素存在。
boon
第2楼2006/09/28
我想这不是你一个人的苦恼，而是大多数刚刚购买XRF工厂的苦脑。时间长了也就习惯了。
投
第3楼2006/09/29
我做过一个样品,客户说用XRF测Pb有几K个PPM,但我用微波消解后,用ICP测出来几有一两个PPM,做了三次结果都一样,所以有时XRF的数据也要小心
steel
第4楼2006/09/29
首先你是用什么方法测定的，是用EDXRF吗？确实基体效应存在，测定的结果出入很大。还有能保证你的样品是匀质的吗？用精确分析方法，如微波消解后ICP光谱测定当然会准确的多。
21個人
第5楼2006/09/30
首先請確認XRF檢測出的是不是干擾的峰再確認你用微波消解的產品是不是用XRF測出來超標的東西
lsyzsdx
第6楼2006/09/30
XRF在化学分析方面只能用作定性和半定量分析，准确性比较差。同时在对待不同材料，XRF也有不同的表现--如果材质是塑料，而且均匀，那么由它测得的结果相对就比较准确，甚至和ICP测试的结果一致。但如果测试材料是金属，基体复杂，干扰多，XRF测试的结果就只能作参考，如果要得到准确的结果，则要用化学方法。
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