透射电镜(TEM)
仙后婧婧(谭思婧)
第1楼2015/06/10
没什么不一样吧~~~~~
凌泪雪
第2楼2015/06/10
好吧,那为什么打出的成分会相差很多?
csun47
第3楼2015/06/11
是EELS还是EDS
第4楼2015/06/11
我们的能谱更奇葩,打什么都有铁峰
第5楼2015/06/11
EDS
第6楼2015/06/11
对啊,会冒出根本不存在的氟,而且铁峰超级高。。。我现在在想是不是分析软件的问题?又或者是其他原因。。。反正差别很大,,,对了,这两种模式是在两台电镜上做的,但是是同一个型号的电镜。因为之前的约不到了才换的
wjianna
第7楼2015/07/07
由于STEM采用的是汇聚电子束,可以比较精确地打在一个小区域,因此可以比较把握地说就是你打的那个点的成分。TEM模式下电子束的控制能力差,即使你把束斑汇聚在一点,仍然有很多杂散电子!可能来自光阑等等部件,得到很多其它元素也就不足为奇。因此,我通常只用TEM模式检查关心的那个元素在不在(为了确认所找的区域正确)
第8楼2015/07/07
其他还有很多因素以前在另一个帖子说过,比如1)来自样品杆的信号(所以要采用低背景样品杆)2)来自支持网的铜等金属,来自支持膜的碳、氧、硅是常见的除了事先采取措施避免干扰,剩余的就只有说明某个元素是来自支持网或者支持膜。至于说氟元素,多半是错误标定。自动标定的结果很多时候是有错误的,需要 根据多组峰的印证,或者分峰拟合来进一步确定。氟和铁的L峰就很靠近
lirongzhu
第9楼2015/07/07
我觉得不是电镜的问题也不是软件的毛病,有可能是样品还有你本人的问题。首先你得确定样品很均匀,这个是测试的基本前提,不存在人为选择测试区域不同的影响。其次,你的分析有很大问题,为什么要拿这两种模式下得出的结论来对比?TEM定点,STEM呢?我不得而知。
毒菇九剑
第10楼2015/08/19
STEM可以做mapping linescan啊
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