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FIB制作的样品在TEM中观察衬度比较暗可能导致的原因有哪些,希望大家不吝指导

透射电镜(TEM)

  • FIB制作的样品在TEM中观察衬度比较暗可能导致的原因有哪些,如题。
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  • m3033883

    第1楼2017/12/23

    应助达人

    可能是切割时在样品表面引入了缺陷。一个现象就是fib切割的样品的衍射花样上有很多弱斑点。估计就是这些缺陷形成的。

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  • 小偷爸爸

    第2楼2017/12/24

    说明切的比较厚,薄一点就可以了,当然,这个比较看材料,总体而言,就是透明的边缘最好。

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  • nanguo

    第3楼2017/12/25

    是的,我查阅资料提示说可能是样品本身比较厚或者制样时表面存在非晶层,我觉得应该不是样品厚的原因,那是非晶曾的原因吗还是什么其他的原因?希望共同探讨下。

    小偷爸爸(v3050889) 发表:说明切的比较厚,薄一点就可以了,当然,这个比较看材料,总体而言,就是透明的边缘最好。

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  • nanguo

    第4楼2017/12/25

    引入缺陷会导致衬度变暗吗,有相关资料方便给我了解下吗?我查阅资料提示说可能是样品本身比较厚或者制样时表面存在非晶层,但是我感觉不是比较厚。

    m3033883(m3033883) 发表:可能是切割时在样品表面引入了缺陷。一个现象就是fib切割的样品的衍射花样上有很多弱斑点。估计就是这些缺陷形成的。

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  • 泡炮

    第5楼2018/03/28

    FIB加工时的能量很高,稍不注意就会在样品表面形成非晶区域

    nanguo(v2925557) 发表: 引入缺陷会导致衬度变暗吗,有相关资料方便给我了解下吗?我查阅资料提示说可能是样品本身比较厚或者制样时表面存在非晶层,但是我感觉不是比较厚。

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