【求助】请问IEC62321中对XRF限量的规定里面的3σ是怎样来的？

σ不是仪器本身的标准偏差吗？
再说IEC62321已经被否定了

谁说被否定了啊？中国的SJ检测标准和它差不多呢

只是暂时没有通过，不等于完全否定

X线的发生是服从泊松分布。故可近似于高斯分布（正态分布）。所有的测定都是计数X线，从X线的量中求得分析值。由于X线的计数量是高斯分布，因此分析值也根据此进行分布。反过来说，分析值就必然带有偏差。这是因为在进行多次测定时，不可能得到相同分析值的缘故。
请理解产生偏差的根本原因在于它是X线的计数量。
偏差可用单纯的公式来表示。若求得真计数量的根，就是所谓标准偏差的值。
也就是说将计数量的根称为σ，在某一测定中，达到真计数量±σ的概率为：若测定65％=100次的话，约有65次达到范围。统计学告诉我们，真计数量若是±２σ，即为95％、若是3σ，即为99.8％。
σ为表示误差的程度，有时也称为误差。

很深奥，比较难理解。

又长知识了,谢谢

请问IEC62321中对XRF限量的规定里面的3σ是怎样来的？

3σ:针对空白样品连续测量7次的一个偏差值,一般为零.

可是我们测试XRF的时候没有测试空白样品，仪器在显示测试结果的时候显示σ，不是3σ。难道说仪器智能化了，不需要人工测试空白样品？

可是我们测试XRF的时候没有测试空白样品，仪器在显示测试结果的时候显示σ，不是3σ。难道说仪器智能化了，不需要人工测试空白样品？