10月15日半导体材料研发、应用及分析检测技术（上） | ||
报告时间 | 报告题目 | 报告人 |
09:00--09:30 | 钙钛矿纳米材料与SPP激光器 | 中国科学院半导体研究所研究员 王智杰 |
09:30--10:00 | 赛默飞色谱质谱产品在半导体行业中的的应用 | 赛默飞世尔科技应用专家钟新林 |
10:00--10:30 | PerkinElmer在半导体制程中的检测方案 | 珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司技术专家 华瑞 |
10:30--11:00 | 半导体材料生产与工艺质量监控的先进技术进展 | 布鲁克（北京）科技有限公司应用经理 黄鹤 |
11:00--11:30 | 梅特勒-托利多公司半导体行业检测方案 | 梅特勒-托利多产品专员 李玉琪 |
11:30--12:00 | InP基光子集成材料与器件及标准代工平台 | 中国科学院半导体研究所研究员 赵玲娟 |
12:00--13:30 | 午休 | |
13:30--14:00 | Si基GaN材料的MOCVD外延生长及杂质缺陷研究 | 北京大学高级工程师 杨学林 |
14:00--14:30 | 阴极发光成像技术的发展及其在表征半导体材料研究中的应用 | 荷兰Delmic公司应用专家Sangeetha Hari |
14:30--15:00 | 电子级水在半导体行业中的应用及解决方案 | 默克化工技术（上海）有限公司高级应用专家 李子超 |
15:00--15:30 | 日立电子显微镜在半导体分析中的应用 | 日立高新技术（上海）国际贸易有限公司经理 周鸥 |
15:30--16:00 | 扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用 | 暨南大学教授 谢伟广 |
16:00--16:30 | 半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究 | 华中科技大学武汉光电国家研究中心副教授 李露颖 |
10月16日半导体材料研发、应用及分析检测技术（下） | ||
09:30--10:00 | 氧化镓基半导体器件研究进展 | 复旦大学青年研究员 刘文军 |
10:00--10:30 | 高纯半导体材料的无机元素分析 | 安捷伦科技（中国）有限公司原子光谱应用工程师 应钰 |
10:30--11:00 | 待定 | HORIBA |
11:00--11:30 | 半导体光电子外延材料国产化 | 江苏华兴激光科技有限公司总经理 罗帅 |
10月16日半导体器件研发、应用及分析检测技术 | ||
13:30--14:00 | 双模微腔激光器及其应用 | 中国科学院半导体研究所研究员 黄永箴 |
14:00--14:30 | 硅光通信与互连：一种变革性的技术 | 中国科学院半导体研究所研究员 杨林 |
14:30--15:00 | 半导体微纳加工中的硅干法刻蚀技术 | 中国科学院半导体研究所研究员 王晓东 |
15:00--15:30 | 待定 | 中国科学院电工研究所副所长韩立 |
15:30--16:00 | 半导体产业现状及相关检测技术进展 | 国家半导体器件质量监督检验中心副主任 席善斌 |
16:00--16:30 | 硅基III-V族光电器件及其缺陷的表征 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所项目研究员樊士钊 |
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