仪器信息网APP

选仪器、听讲座、看资讯

立即体验

当前位置：仪器社区 >质谱 > ICP-MS > 帖子详情

【实战宝典】ICP-MS的测量强度是以峰的积分面积来计算离子的数量还是峰高或其他？

小官人-闭关修炼中

2022/06/21

问题描述：ICP-MS的测量强度是以峰的积分面积来计算离子的数量还是峰高或其他？
解答：

从ICP-MS谱图可以看出来，20个点描出一个谱图，仪器测量每个点，都要花费同样的dwell time，如果你使用峰面积，就需要把20个点的数据加起来，除以20倍的dwell time，这样ICP-MS谱峰的峰面积要比峰高小了不少，实际上ICP-MS很少使用峰面积，而在全谱直读的ICP-OES中，谱峰上的所有点都是同时测出来的，峰面积就是所有点的加和，峰面积比峰高要大很多。

以上内容来自仪器信息网《ICP-MS实战宝典》

相关话题

近期热榜

热门活动

猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐

品牌合作伙伴

日立科学仪器

珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）

珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）

日本电子株式会社

赛默飞世尔科技

马尔文帕纳科

上海仪电科仪

梅特勒托利多

布鲁克核磁

举报帖子

点赞用户

好友列表

加载中...

正在为您切换请稍后...