硅晶圆缺陷检测设备

硅晶圆缺陷检测设备

参考价:面议
型号: GWS
产地: 日本
品牌: RayResearch
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GWS-晶圆外延缺陷检测系统

从操作员的目视检查到检测设备的自动化

1) 超越目视检查水平的检测性能

2) 缺陷位置的可视化以及缺陷图像可存储化

3) 可对应OHT 和 MES 



上海瞻驰科技有限公司为您提供RayResearch硅晶圆缺陷检测设备GWS,RayResearchGWS产地为日本,属于进口晶圆缺陷光学检测设备,除了硅晶圆缺陷检测设备的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多晶圆缺陷光学检测设备,瞻驰客服电话,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 365天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训

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