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硅晶圆缺陷检测设备

报价 面议

品牌

RayResearch

型号

GWS

产地

亚洲日本

应用领域

暂无
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GWS-晶圆外延缺陷检测系统

从操作员的目视检查到检测设备的自动化

1) 超越目视检查水平的检测性能

2) 缺陷位置的可视化以及缺陷图像可存储化

3) 可对应OHT 和 MES 



售后服务

365天

1年

安装调试现场免费培训

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