仪器对比
关注
FR-uProbe是涂层表征应用的解决方案，要求光斑尺寸小至极小微米，例如微图案表面，具有不规则表面的样品，其表现出高水平的散射光和许多其它。使用FR-uProbe，在UV / Vis / NIR上的局部薄膜厚度，光学常数，反射率，透射率和吸光度测量只需点击即可。
白光反射光谱（WLRS）测量在一定波长范围内从薄膜或多层叠堆反射的光量，入射光垂直于（垂直于）样品表面。
通过来自界面的干涉产生的测量的反射光谱用于确定自支撑和支撑（在透明或部分/全反射基板上）薄膜堆叠的厚度，光学常数（n和k）等。
应用
o大学和研究实验室
o半导体（氧化物，氮化物，硅，抗蚀剂等）
o MEMS器件（光刻胶，硅膜等）
o LED
o数据存储
o阳极氧化
o弯曲基板上的硬/软涂层
o聚合物涂料，粘合剂等
o生物医学（聚对二甲苯，气球壁厚等）
特征
o 单击分析（无需初始猜测）
o 动态测量
o 集成USB摄像头
o 保存视频进行演示
o 350+不相同的材料
o 3年免费软件更新
o 在Windows 7/8/10上运行
-
MC方案：光刻胶溶解的实时监测电子/电气 2020-03-09
-
MC方案：测量厚膜的厚度均匀性
电子/电气 2020-03-09
1年
否
无
1次线上培训
无
因产品质量问题免费保修（各种消耗品除外），仪器提供全面维护，使之处于正常工作状态
产品质保期内本公司提供36小时内的维修服务响应（除节假日外），以最快的速度派遣
- 相关仪器
相关产品
