准瞬态二维温度场

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准瞬态二维温度场相关的耗材

  • 二维位移平台
    电动XY位移台和电动二维位移台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口电动XY位移台,电动二维位移台,XY二维位移台。这款电动XY位移台是美国制造的高精度电动二维位移台,采用了XY双轴组合型设计,可以设计成实心顶部,也可设计成开放的框架结构,同时满足超净工作间和真空环境的使用要求。主要特色电动XY位移台超薄设计,3层结构;电动二维位移台直线伺服或滚轴丝杆驱动系统XY二维位移台集成的非接触式位置编码器电动XY位移台分辨率高达1纳米电动二维位移台内部预加载的辊导向系统XY二维位移台可集成伺服控制功能这 款电动XY位移台采用特殊的3层结构设计,保证了最小的形变和最高的精度,电动二维位移台的刚度和稳定性也得到了最大化,从而保证了XY二维位移台的最佳 支撑和完整性. 无空回(backlash-free)的预装引导系统保证了电动XY位移台实现平稳,低摩擦,高精度地定位,无故障长期使用。应用这款电动XY位移台,电动二维位移台具有广泛的应用,比如,可用于计量和制造领域,半导体封装,测试和制造领域,视频检测,微细加工,激光加工,告诉加工,激光和检测等领域。也有许多用户把这套电动XY二维位移台用于显微镜上,替代精度不足的传统显微镜载物台。配置行程范围100x100mm到300x300mm位移台高度最低可达60mm开放框架或固体顶部适合超净间使用真空兼容,适合真空环境使用非磁性主要参数:行程范围:100x100mm, 150x150mm, 200x200mm, 300x300mm驱动系统;步进电机,伺服电机,直线伺服电机,陶瓷伺服电机最大加速度:由负载决定最大速度:直线电机驱动:500mm/s,滚珠螺杆:250mm/s,滚柱丝杠驱动:40mm/s最大负载:15kgTTL分辨率:50nm重复精度:≤1μm构造:铝合金主体,灰色硬质涂层 MS-100 STMS150-STMS200-STMS300-STMS-OFTTravel Length (mm)100x 100150x 150200x200300x300100x150Trajectory Control Accuracy Standard Precision SP± 7.5µ m± 10µ m± 15µ m± 20µ m± 15µ /mHigh Precision HP ± 5µ m± 7.5µ m± 10µ m± 10µ mn/aExtra High Precision XHP± 3µ mna
  • 二维GCxGC色谱柱 (为了增加极性)
    二维GCxGC色谱柱 (为了增加极性)1、GCxGC色谱柱 固定相可选范围广,提供正交分离。2、GCxGC色谱柱 高的热稳定性,提高了系统的耐用性。3、GCxGC色谱柱 卓越的色谱柱惰性提高了对活性化合物分析的准确性。4、GCxGC色谱柱 0.15, 0.18和0.25 mm内径的色谱柱能适应不同的样品容量,分离速度和检器。5、GCxGC色谱柱 对于经济合理的方法开发,二维柱的长度在2米左右。固定相 长度 ID df 温度限度 货号 Rxi-1ms 2 m 0.15 mm 0.15 μm -60 to 330/350 °C 15114 2 m 0.18 mm 0.18 μm -60 to 330/350 °C 15120 2 m 0.25 mm 0.25 μm -60 to 330/350 °C 15127Rxi-5Sil MS 2 m 0.15 mm 0.15 μm -60 to 330/350 °C 15113 2 m 0.18 mm 0.18 μm -60 to 330/350 °C 15119 2 m 0.25 mm 0.25 μm -60 to 330/350 °C 15126Rxi-XLB 2 m 0.15 mm 0.15 μm 30 to 340/360 °C 15115 2 m 0.18 mm 0.18 μm 30 to 340/360 °C 15121 2 m 0.25 mm 0.25 μm 30 to 340/360 °C 15128Rxi-17Sil MS 2 m 0.15 mm 0.15 μm 40 to 340/360 °C 15110 2 m 0.18 mm 0.18 μm 40 to 340/360 °C 15116 2 m 0.25 mm 0.25 μm 40 to 340/360 °C 15123Rtx-200 2 m 0.15 mm 0.15 μm -20 to 320/340 °C 15111 2 m 0.18 mm 0.18 μm -20 to 320/340 °C 15117 2 m 0.25 mm 0.25 μm -20 to 320/340 °C 15124Stabilwax 2 m 0.15 mm 0.15 μm 40 to 250/260 °C 15112 2 m 0.18 mm 0.18 μm 40 to 250/260 °C 15118 2 m 0.25 mm 0.25 μm 40 to 250/260 °C 15125为您的应用选择最好的一维/二维柱连接,请使用我们的指南!
  • 瑞思泰康 二维GCxGC色谱柱 其他气相专用柱
    二维GCxGC色谱柱 (为了增加极性) Restek GCxGC色谱柱:您的二维气相色谱的唯一来源 为什么用GCxGC? GCxGC是一种功能强大的多维气相技术,它将两根独立的色谱柱结合在一起来准确的分析高度复杂的样品。GCxGC是用一个调制器把含不同固定相(正交)的两根色谱柱以串联方式连接在一起。第一根(一级)柱子进行初步分离,分离出来的馏分经调制器聚集后以脉冲方式再注入第二根(二级)柱子,进行第二次分离。通过选择与一维柱分离机制正交(有不同的选择性)的二维柱,能对一维柱中不能分离的化合物分离并确证。并且由于二维柱比一维柱短很多,保证了在较短的脉冲周期中完成第二维分离,不会导致前后两次脉冲流出的组分相互交叉或重叠。通过一系列的高速色谱图所产生的结果绘制等高线图,有时也被称为保留平面(图1)。那么,为什么要使用GCxGC?因为全二维气相色谱仪能分离那些用标准一维色谱根本无法分离的物质!为什么要使用Restek GCxGC色谱柱?? 固定相可选范围广,提供正交分离。? 高的热稳定性,提高了系统的耐用性。? 卓越的色谱柱惰性提高了对活性化合物分析的准确性。? 0.15, 0.18和0.25 mm内径的色谱柱能适应不同的样品容量,分离速度和检测器。? 对于经济合理的方法开发,二维柱的长度在2米左右。Restek公司从建立之初就开始发展全二维气相色谱技术。我们的创新实验室拥有多台致力于GCxGC 应用的仪器,并且我们还在不断开拓新的应用领域,包括环境,食品安全,石油,法医,香料,天然产物,烟草,代谢组学和膳食补充剂。 Restek的GCxGC二维柱能与任何RestekRtx® 或Rxi® 一维柱匹配,为您的应用创造完美的正交分离。请参阅以下的结合指南来帮助你选择适合您的GCxGC色谱柱。我们还提供一系列的GC配件,包括:Sky® 进口衬管,Restek 电子检漏仪和Press-Tight® 连接器,使您能成功使用GCxGC。 Restek GCxGC色谱柱结合指南为了在GCxGC分析中得到理想的效果,最重要的是您的一维柱和二维柱的正交固定相能产生不同的分离机制。使用下表来查找Restek色谱柱的最好结合方式,最大限度的有效利用您的GCxGC系统。一维色谱柱二维色谱柱应用领域固定相选择性固定相选择性石化Rxi® -1ms非极性Rxi® -17Sil MS中等极性, 芳烃选择性石化Rxi® -5Sil MS非极性Rxi® -17Sil MS中等极性, 芳烃选择性PAHs, 环境Rxi® -17Sil MS中等极性, 芳烃选择性Rxi® -1ms非极性PAHs, 环境Rxi® -17Sil MS中等极性, 芳烃选择性Rxi® -5Sil MS非极性PCBs, PBDEs, PAHs,环境Rxi® -XLB非极性Rxi® -17Sil MS中等极性, 芳烃选择性Mono-ortho,平面状多氯联苯Rxi® -1ms非极性Rxi® -XLB平面选择性Mono-ortho,平面状多氯联苯Rxi® -5Sil MS非极性Rxi® -XLB平面选择性农药,硝基芳香烃,卤代化合物Rxi® -1ms非极性Rtx® -200中等极性,负电选择性农药,硝基芳香烃,卤代化合物Rxi® -5Sil MS非极性Rtx® -200中等极性,负电选择性农药,硝基芳香烃,卤代化合物Rxi® -XLB非极性Rtx® -200中等极性,负电选择性调料, 香料Rxi® -1ms非极性Stabilwax® 极性调料, 香料Rxi® -5Sil MS非极性Stabilwax® 极性调料, 香料Stabilwax® 极性Rxi® -1ms非极性 图 1: 类似于这样的等高线图显示其检测到大麻中超过80种的农药,X轴表示一维柱的保留时间,Y轴表示二维柱的保留时间。沿Y轴对齐的峰是一维GC中一起洗脱出来的物质,如果它们不能被MS分离就可能成为特殊的问题。色谱柱: Rxi® -5Sil MS 30 m, 0.25 mm ID, 0.25 μm (货号 13623) Rtx® -200 1.3 m, 0.25 mm ID, 0.25 μm (货号 15020);样品:稀释剂:甲苯; 进样:进样体积: 1 μL 不分流 (维持1 min);衬管: Sky® 4 mm single taper w/wool (货号 23303.1) 进样温度:250 °C;清洗流速:40 mL/min;柱温箱:柱温箱温度:Rxi® -5Sil MS: 80 °C (维持1 min)以5 °C/min升温到310 °C;Rtx® -200: 85 °C (维持 1 min)以5 °C/min升温到315°C;载气: He, 校正的定量流动 (2 mL/min) 调制: 调制温度补偿: 20 °C 第二维分离时间:3 sec;脉冲热压时间:0.9 sec;阶段之间的冷却时间:0.6 sec;检测器:TOFMS;传输线温度:290 °C;分析类型:TOF; 源温度:225 °C;电子能量:70 eV Mass Defect: -20 mu/100 u;溶剂延迟时间:5 min;Tune类型:PFTBA; 电离模式:EI;采集范围: 45-550 amu 光谱采集率: 100 spectra/sec 仪器:LECO Pegasus 4D GCxGC-TOFMS 注意: Rtx® -200 (货号 15020)是一根15 m的色谱柱。二维色谱柱选用长1.3 m的柱子。 订货信息:二维GCxGC色谱柱 (为了增加极性)固定相长度IDdf温度限度货号Rxi-1ms2 m0.15 mm0.15 μm-60 to 330/350 °C151142 m0.18 mm0.18 μm-60 to 330/350 °C151202 m0.25 mm0.25 μm-60 to 330/350 °C15127Rxi-5Sil MS2 m0.15 mm0.15 μm-60 to 330/350 °C151132 m0.18 mm0.18 μm-60 to 330/350 °C151192 m0.25 mm0.25 μm-60 to 330/350 °C15126Rxi-XLB2 m0.15 mm0.15 μm30 to 340/360 °C151152 m0.18 mm0.18 μm30 to 340/360 °C151212 m0.25 mm0.25 μm30 to 340/360 °C15128Rxi-17Sil MS2 m0.15 mm0.15 μm40 to 340/360 °C151102 m0.18 mm0.18 μm40 to 340/360 °C151162 m0.25 mm0.25 μm40 to 340/360 °C15123Rtx-2002 m0.15 mm0.15 μm-20 to 320/340 °C151112 m0.18 mm0.18 μm-20 to 320/340 °C151172 m0.25 mm0.25 μm-20 to 320/340 °C15124Stabilwax2 m0.15 mm0.15 μm40 to 250/260 °C151122 m0.18 mm0.18 μm40 to 250/260 °C151182 m0.25 mm0.25 μm40 to 250/260 °C15125GCxGC二维柱选择套装描述qty.货号GCxGC (0.15 mm)选择套装—节省kit15129包括(每个产品也可单独使用)Rxi-1ms2 m x 0.15 mm x 0.15 μmea.15114Rxi-5Sil MS2 m x 0.15 mm x 0.15 μmea.15113Rxi-XLB2 m x 0.15 mm x 0.15 μmea.15115Rxi-17Sil MS2 m x 0.15 mm x 0.15 μmea.15110Rtx-2002 m x 0.15 mm x 0.15 μmea.15111Stabilwax2 m x 0.15 mm x 0.15 μmea.15112通用Press-Tigh连接器去活5-pk.20429描述qty.货号GCxGC (0.18 mm)选择套装—节省kit15130包括(每个产品也可单独使用)Rxi-1ms2 m x 0.18 mm x 0.18 μmea.15120Rxi-5Sil MS2 m x 0.18 mm x 0.18 μmea.15119Rxi-XLB2 m x 0.18 mm x 0.18 μmea.15121Rxi-17Sil MS2 m x 0.18 mm x 0.18 μmea.15116Rtx-2002 m x 0.18 mm x 0.18 μmea.15117Stabilwax2 m x 0.18 mm x 0.18 μmea.15118通用Press-Tigh连接器去活5-pk.20429描述qty.货号GCxGC (0.25 mm) 选择套装—节省kit15131包括(每个产品也可单独使用)Rxi-1ms2 m x 0.25 mm x 0.25 μmea.15127Rxi-5Sil MS2 m x 0.25 mm x 0.25 μmea.15126Rxi-XLB2 m x 0.25 mm x 0.25 μmea.15128Rxi-17Sil MS2 m x 0.25 mm x 0.25 μmea.15123Rtx-2002 m x 0.25 mm x 0.25 μmea.15124Stabilwax2 m x 0.25 mm x 0.25 μmea.15125通用Press-Tigh连接器去活5-pk.20429

准瞬态二维温度场相关的仪器

  • 背景介绍—瞬态吸收光谱和瞬态吸收成像的应用基于泵浦探测(Pump-Probe)原理的瞬态吸收光谱,在频率维度和时间维度上提供了丰富的光谱和动力学信息,过去的几十年应用于物理、化学、材料、能源、生物等广泛领域。当今,许多领域科学研究的范式和需求都在不断更新。尤其是随着钙钛矿光伏、二维材料、量子器件、高温超导等前沿领域的发展,科学家迫亟需在空间维度上揭示载流子等微观离子的迁移和演化规律,研究微纳米材料的物理态在空间分布上的异质性。瞬态吸收成像,可在空间和时间维度上研究微观粒子和能量的运动和演化,是研究微观粒子和能量的时空演化、阐释微观机制的重要工具。瞬态吸收成像,一般有两种实现方式,点扫描成像和宽场成像。相对点扫描成像,宽场成像模式具有速度快、通量高,成像质量更加细腻的特点。Omni-TAM900为北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的一款宽场飞秒瞬态吸收成像系统。该系统集成像和动力学于一体,联合飞秒泵浦-探测技术和显微技术,通过自主知识产权的干涉放大技术增强图像信噪比,可获得高质量的成像效果并大幅度缩短测试时间。仪器基本功能和性能:仪器具有点泵浦-宽场探测,和宽场泵浦-宽场探测两种工作模式。分点泵浦模式可用于测量载流子迁移和热导率等;宽场泵浦模式可用于测量载流子分布和物理态的空间异质性等。仪器特点和创新高灵敏、高通量,可测量到单个纳米颗粒、单层石墨烯乃至单层分子晶体的瞬态吸收信号。仪器原理和实现方式Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统原理如下图所示,经过飞秒激光器和光学参量放大器(OPA)之后出来的飞秒激光,通过显微镜的光学系统进入,并作为泵浦光源激发样品,而另一束经过空间调制的探测光在一定的时间延迟之后也经过显微系统到达样品,样品在激发态对探测光产生的吸收情况会被显微镜上的sCMOS 相机记录下来。通过调节光学延迟线(Optical Delay Line),得到样品在不同延迟时间下的sCMOS图像。Omni-TAM900 可以有两种成像模式(如下图所示): 聚焦泵浦光模式(点泵浦,宽场探测)和宽场泵浦光模式(宽场泵浦、宽场探测),前者主要用于研究载流子的迁移,后者用于检测载流子的空间分布状况。软件软件可进行同步采集,自动控制和处理,载流子的寿命、载流子的迁移速率、载流子的分布、动力学等信息均可以通过软件得到。应用方向及实测数据 Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统是测量载流子时空演化的强大工具,可广泛应用于物理、材料及器件的前沿研究,比如:太阳能电池、低维材料、量子器件、超导材料、新型半导体、纳米催化、生物传感等,对纳米尺度和飞秒时空尺度中的超快的物理、化学及生物过程进行监测。 金属镀膜中的载流子迁移和热扩散10 nm厚金属薄膜上的超快热载流子和热扩散,采用仪器的点激发,宽场探测模式。半导体中的载流子迁移和热扩散同时监测Si基半导体中的载流子迁移和热扩散(可测量半导体材料的热导率),采用仪器的点激发,宽场探测模式。光伏材料中的载流子迁移和演化钙钛矿CsPbBr3载流子成像,迁移动力学及边缘态动力学研究。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式催化材料中的热载流子分布和“热点”局部热电子密度高、寿命长,可能具有更高的催化活性。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式。新型二维材料中的边缘物理态研究二维WS2中激子分布情况,激子寿命研究。可以看到,多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命技术参数 光源飞秒激光 +OPA,激光波长范围取决于应用场景检测器sCMOS成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs 激光脉冲条件下)时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜,上方为开放空间,后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景。测量模式点泵浦 + 宽场探测(载流子迁移)宽场泵浦 + 宽场探测(载流子分布)仪器工作模式反射 / 散射已发表文献:J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928专利:202110510123.X(以上展示的所有实测数据均为本型号仪器测得,并已公开发表,更多细节请查阅以上文献)。更多参考文献:(为了方便用户参考研究前沿,如下列出一些国际上利用瞬态吸收成像方法的研究案例。这些数据并非用该型号仪器获得,但是卓立Omni-TAM900仪器可实现这些应用场景中的绝大多数功能。如有特殊需求,欢迎与卓立汉光联系。)Science 2017, 356, 59 (钙钛矿超长热载流子)Nat. Mater. 2020, 19, 617 (转角二维量子异质结)Science 2021, 371, 371 (超导材料电荷密度波)Science 2022, 377, 437 (立方砷化硼超高载流子)Nat. Mater. 2020 , 9, 56 (材料中的携能载流子)
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  • 闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的材料,可分为有机和无机两大类,按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁,且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时,一个X射线光子,可以产生多个光子,与紫外可见光不同,因为X射线的能量足以使物体电离,使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子,通过产生俄歇电子,康普顿散射等产生更多的电离电子(二次电子),二次电子热能化退至激发能级,通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上,闪烁体是核医学影像设备的核心部件,通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料,它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息,是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门,在辐射光源最大功率下关闭快门时,样品位置辐射剂量小于10uSv/h,辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时,分辨率可以达到20pl/mm以上。
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  • OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件,配合精心优化的激发与发射光路设计,显著地提高了荧光信号探测的灵敏度,纯水拉曼信噪比可达10,000:1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则,以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础,搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器,可方便地实现荧光(PL)光谱、激光诱导荧光(LIF)光谱、电致发光(EL)光谱及荧光量子产率(QY)等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪,还可搭配牛津仪器(Oxford Instruments)公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器,便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱,从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据,以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距(mm)320杂散光1*10-5光谱分辨率(nm)?0.08波长准确度(nm)?±0.2波长重复性(nm)?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板,防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS(制冷至 -10℃)数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率:100Mcps分辨率:16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us;通道数:65535时间扫描:1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号:±触发沿,高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能:激发扫描,发射扫描,同步扫描,三维扫描可选功能:偏置测试,温度控制扫描瞬态测试功能:动力学扫描,寿命扫描,时间分辨光谱扫描数据处理功能:量子产率计算,TRES Slicing,光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件:激发波长350nm,扫描范围370-450nm,狭缝带宽5nm,积分时间1s注? 测试条件:1200g/mm 500nm闪耀光栅,435.84nm,狭缝高4mm,宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928(200-900nm),R13456(185-980nm),H10330C-75(950-1700nm), R5509-73(300-1700nm)
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  • 【原创大赛】瞬态平面热源法(HOTDISK法)测量导热脂不同温度下的导热系数

    【原创大赛】瞬态平面热源法(HOTDISK法)测量导热脂不同温度下的导热系数

    摘要:针对某种牌号导热脂这种热界面材料,采用瞬态平面热源法(HOTDISK法)测量了这种材料在25℃~150℃范围内导热系数变化,由此了解导热脂在不同温度下的导热性能,为这种材料的工程应用提供参考。1. 测试背景 导热脂作为一类典型的热界面材料(TIM—ThermalInterfaceMaterials)长期以来在各个行业中被用作传热材料,具有诸多优势,包括高低温稳定性、本身固有的低离子含量及很高的纯度。而且,由于其可与基板实现优异的表面接触和无孔隙界面,因而它们常常是各种传热材料的首选。导热脂在化学性质上为惰性,可在-45℃至+200℃的温度范围内保持较稳定的物理性能,这使其成为极少数能够承受各种恶劣运行环境的材料之一。由于模量很低,导热脂具有足够的柔性,可适应不同的热膨胀系数(CTE),传递到部件或基板的应力达到最小。导热脂有多种形式: (1)灌封剂和凝胶形式导热脂 (2)粘合剂形式导热脂 (3)填隙形式导热脂 导热脂这类热界面材料在冷却散热中应用广泛,各种厂家和型号的产品也是众多,但很少看到过厂家提供导热脂在不同温度下的导热系数数据,而不同温度下的导热系数数据是产品性能评价、冷却散热系统设计和工程应用选型的重要依据。 本测试试验针对导热脂这类材料,采用瞬态平面热源法,在不同温度下测量导热脂的导热系数,由此给出导热脂随温度变化的规律,为导热脂产品的评价和应用提供参考。2. 测试方法和测试仪器2.1. 测试方法 对于导热脂导热系数的测量,我们选择采用瞬态平面热源法。瞬态平面热源法作为一种绝对测量方法,在理论上可以达到很高的测量精度,特别适合导热脂这类热界面材料的测试。采用瞬态平面热源法测量导热脂的导热系数,主要体现出以下几方面的优势: (1)标准测试方法:瞬态平面热源法是一种标准测试方法,具有相应的测试标准方法,及ISO/DIS 22007-2.2 Plastics - Determination of thermal conductivity and thermal diffusivity - Part 2: Transient plane heat source (Hot Disk) method。具有标准方法有利于测试的准确性、可延续性和可对比性。 (2)测试精度高:在瞬态平面热源法标准测试方法中,明确把瞬态平面热源法归结到塑料材料,塑料类材料的一般特征是热导率在0.1~10 W/mK 范围并呈现各项同性,而瞬态平面热源法对塑料类材料的测试可以达到很高的精度。关键的是在这个导热系数测试范围内,有各种标准参考材料来对测量精度进行校准。 (3)试样制造的方便性:导热脂类热界面材料在工程上的应用可能会呈现出油脂状、膏脂状和固体状形式,特别是对于脂状的导热脂,可以很方便的将探测器插入导热脂试样中进行直接测量,大大降低了制样难度和测试难度。2.2. 测试仪器 导热脂导热系数变温测试采用了上海依阳公司出品的TC-4010型号瞬态平面热源法导热系数测试系统,如图 2.1所示。此系统采用冷热循环油浴增压泵流出的硅油作为加热介质流经装载有试样的腔体壁,整个腔体放置在厚实的隔热材料套中,使得被测试样可以精确的按照循环油浴温度进行恒温控制,充分利用了循环油浴±0.05℃的高精度温度控制功能保证试样温度均匀性和稳定性。通过计算机控制循环油浴的设定温度来自动实现不同温度下的试样热导率测量,一般温度变化范围为-40℃~250℃。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/06/201506141137_550100_3384_3.jpg图 2.1 瞬态平面热源法导热系数测试系统http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/06/201506141133_550098_3384_3.png图 2.2 测试探头和导热脂试样的安装 在TC-4010型号瞬态平面热源法导热系数测试系统配置有专门的试样加载装置,此装置可以从加热腔体内抽取出放置在专门固定架上进行试样安装操作,如图 2.2所示。试样安装时取出独立的试样盒进行导热脂导填充,然后再插入探测器。 被测试样为某公司的导热脂,通过填充和挤压方式将导热脂试样装入试样盒内并进行测量。3. 测试结果和讨论 在25℃~150℃温度范围内对导热脂导热系数进行了测量,测试温度点分别为25、50、75、100、125和150℃六个温度点,测量过程可以分为两个步骤: (1)在某一温度恒定点上多次重复测量 由于导热脂在不同温度下的导热系数可能不同,所以测试过程中测试参数,如加热功率、加热时间,可能就需要进行调整以获得最好的测试结果。这样就需要在试样温度达到稳定后,对测试参数进行选择和试验,找到合适的测试参数,然后再进行此温度下的多次重复性测量。测试完成后,控制油浴升高温度并恒定,进行下一个温度点下的导热系数测量。 导热脂的导热系数一般比较大,加热功率选择也比较大(300mW和500mW两档),而加热时间则较小(10s和20s两档),两次测量间隔时间选择40分钟,以保证每次测量结束后试样温度恢复到稳定状态。 (2)整个温度区间内逐个温度点下导热系数全过程自动测量 因为TC-4010型号瞬态平面热源法导热系数测试系统可以进行全自动连续测量,即可以自动控制油浴的自动恒温和升温,并自动进行任意设定时间和任意温度下的导热系数测量。这样就可以自动进行整个台阶式升温过程中的导热系数连续测量,即自动控制油浴达到某一恒定温度,自动进行导热系数重复测量,然后再控制油浴恒定在另一个恒定温度上进行此温度下的导热系数自动测量。由此,通过一次试验可以完成整个温度变化过程中的导热系数测量,大大减少了人工操作,可以在几天甚至几周时间内连续进行测量,此特点尤其适合用对材料在各种老化过程中的导热系数变化进行监控。 由于在不同温度下导热系数可能不同,测试参数也需要进行调整,因此在进行这种全过程自动测量前,一定要进行初步的试验,摸清不同温度下的试验参数,然后在全过程控制程序中输入不同的试验参数再进行全过程的自动测量,这样可以有效保证测量精度。 如图 3.1所示为六个温度点下导热脂导热系数测量结果,在每个温度点至少进行了20次的重复性测量。图 3.2为导热脂导热系数测量结果随温度的变化情况。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/06/201506141152_550104_3384_3.png图 3.1 导热脂不同温度下多次重复性测量结果http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/06/201506141152_550105_3384_3.png图 3.2 不同温度下导热脂的导热系数 从测试结果可以看出,随着温度的升高,导热脂的导热系数呈现出近乎线性的降低。当温度高于125℃后,导热脂导热系数有较大的突变,在150℃时的导热系数相对于常温导热系数几乎下降了三分之一。4. 结论 通过以上对导热脂在不同温度下的导热系数测量,可以发现导热脂的导热系数会随温度上升发生明显的改变,温度越高,导热系数越小。特别是在125℃以上,导热脂导热系数会发生较大的改变。 对于其他型号的导热脂也进行了相应的测试,基本都是这种规律。 这种随温度上升导热系数降低

  • 采用瞬态平面热源法测量NIST标准参考材料SRM 1453热导率随真空度的变化

    采用瞬态平面热源法测量NIST标准参考材料SRM 1453热导率随真空度的变化

    1. 测试目的 美国国家标准与技术研究院(NIST)出品的标准参考材料泡沫聚苯乙烯板SRM 1453主要用于281~313 K温度范围内各种热导率测试仪器和设备的标定和校准,是目前国内外各种低热导率测试方法(稳态保护热板法和稳态热流计法)热导率测试的计量溯源,同样此标准参考材料也可以用于瞬态平面热源法热导率测试的标定和校准,以验证测试方法和测试设备的测量准确性。为此,采用上海依阳公司出品的瞬态平面热源法热导率测试系统对NIST SRM 1453标准参考材料进行热导率测试,以期实现以下目的:(1)评测和验证上海依阳公司瞬态平面热源法热导率测试系统的测量准确性,重点验证低导热材料(热导率0.03W/mK左右)测量的准确性。(2)NIST标准参考材料SRM 1453是一种典型的泡沫聚苯乙烯板,由于低密度和具有一定气孔率,所以这种材料的热导率会随真空度增高而减小。因此希望通过在不同真空度下测试SRM 1453的热导率,评估上海依阳公司瞬态平面热源法热导率测试系统测量极低热导率(小于0.03W/mK)的能力。(3)通过真空控制和真空腔提供变真空测试环境,在1E-04~1E+03Pa覆盖七个数量级的真空度变化范围内,测试NIST标准参考材料SRM 1453在不同真空度下的热导率,得到一条热导率随真空度变化的完整曲线,以期获得热导率随真空度变化的规律。2. 低温变真空瞬态平面热源法热导率测量系统 瞬态平面热源法热导率测量系统是依阳公司低温变真空环境热物理性能测试系统的一部分,采用HOTDISK公司配套产品进行热导率测试,配套主机如图1所示。选择HOTDISK公司的这台测量装置进行配套,主要考虑了以下几方面因素:(1)在采用瞬态平面热源法测试过程中,只需要简单地将探头固定在两块被测试样之间,在试样和探头温度恒定后,测试过程迅速。这样使得与试样直接发生关系的相关装置非常简单,便于对被测试样加载各种环境条件,这非常有助于进行低温和真空环境的材料热导率测试。 (2)瞬态平面热源法的热导率测试范围宽泛,基本可以覆盖绝大多数材料的热导率测试。有此采用一台这种测试仪器就可以实现金属和非金属的热导率测试,特别是低温和深低温环境下多涉及隔热材料和金属结构材料,以往至少需要两套大型测试设备才能分别实现隔热材料和金属材料的热导率测试,现在可以通过一套设备完美的解决热导率测试问题。(3)瞬态平面热源法热导率测试核心装置比较小,所需试样尺寸也不大,这就为多试样同时测量提供了可能。低温变真空环境材料热物理性能测试系统如图2所示,这套系统除了可以进行热导率测试能力之外,主要功能是模拟空间低温高真空环境,测试空间材料的低温热辐射性能。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041708_584268_3384_3.png图1 瑞典HOTDISK公司热常数分析仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584269_3384_3.jpg 图2 低温变真空环境材料热物理性能测试系统低温变真空瞬态平面热源法热导率测量系统主要技术指标如下:(1)温度范围:-200℃~200℃(任一点可控)。 (2)真空度范围: 1E-06Pa~1E+05Pa(可控制范围 1E-01Pa~1E+05Pa)(3)热导率测试范围:400W/mK以下。3. 试样和测试卡具 将购置的厚度为14mm的NIST标准材料材料SRM 1453切割成100mm见方的正方形,如图3所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584270_3384_3.jpg图3 NIST标准材料材料SRM 1453测试试样和测试卡具整体放置在如图4所示的真空腔体内,如图5所示将被测的NIST标准材料材料SRM 1453放入测试卡具内,如图6所示试样和探测器压紧后关闭真空腔,即可进行真空度的控制和热导率测试。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584271_3384_3.jpg图4 低温高真空腔体 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584272_3384_3.jpg图5 测试试样和测试卡具http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584273_3384_3.jpg图6 试样安装完毕后的待测状态4. 测试结果 在NIST标准参考材料SRM 1453不同真空度下热导率测试过程中,首先在常温常压下进行测试,然后再逐渐提高真空度并进行真空度控制,真空度控制精度达到5‰,稳定性优于1%。每个真空度至少恒定半小时后再开始热导率测量,每个真空度下进行2次重复性测量,任何2次测量间隔至少30分钟以上。由于NIST标准参考材料SRM 1453比较薄,厚度为14mm,由此在测试中采用了小尺寸的探头,编号C5501。整个测试过程中,试样温度保持在室温范围内,温度范围为22℃~23℃。为了便于测量控制及描述,真空度单位采用Torr,测试结果如下表所示。表中的试验参数表示测试过程中的探头加热功率(豪瓦)和测试时间(秒)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041722_584275_3384_3.png将以上测试结果绘制成横坐标为真空度、纵坐标为热导率的对数坐标曲线,如图7所示。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584274_3384_3.jpg图7 NIST标准参考材料SRM 1453常温不同真空度下的热导率测试结果5. 分析与结论 按照NIST所提供的SRM 1453热导率标准数据,在常温22℃的常压环境下,热导率标准数据为0.03348W/mK。按照上述的测试结果,在常温22℃的常压环境下,多次热导率重复性测量测试结果范围为0.03226~0.03251 W/mK,偏差范围为2.90%~3.65%,完全处于±5%的误差范围内。另外,从图7所示的测试结果可以看出,整

  • 【原创】瞬态法材料热物性测量简介

    众所周知,固体材料的热导率、热扩散系数、比热等热物理性质,随着材料,材料的结构、密度、多孔性、导电性、含湿率和温度的不同而变化。有些材料还与方向有关。对应于不同的材料和不同的试验条件,测量值会有很大的差异。测量材料的热物理性质,在科学研究和工程应用上,具有至关重要的意义;热物性测量与力学测量、电学测量、光学测量等一样,是物性研究和应用的基本测量技术之一。材料热物理性质可以用稳态法或瞬态法进行测量。目前,国内、外主要使用稳态法测量材料的热导率。有仪器采用瞬态法测量材料的热扩散系数、热导率和定压比热等热物理性质。所谓瞬态测量,是指在加热升温,或停止加热后的降温过程中,实现对材料热物理性质的测量。瞬态测量不要求恒温环境,测量系统也无需达到或保持热平衡状态。瞬态法的理想模型为无限大介质中的一维非稳态导热问题,具体为无限大的热源在无限大介质中处于初始热平衡状态下受到瞬间加热脉冲而引起的热传导过程。瞬态法的测量时间极短。目前多用的方法有: 热线法; 平面热源法:1恒流法,2脉冲法; 热针法;热线法:很多仪器采用了热线法,具有代表性的是日本的一些仪器。但是热线法在后期的算法处理上损失的信息比较多,精度很低。平面热源法:平面热源法,是指加热热源为一理想平面的片状物,用于对无限大均匀材料进行加热测量的方法。对平面热源的基本要求:一是厚度可以略而不计;二是在有效加热面积范围内,单位面积发出的热量不随时间变化,即热源的热流强度保持均匀、恒定;三是加热片有效加热面积与试件的横截面积相等。用平面热源法加热测量时,只要加热片足够大,就可以认为热流只在垂直于热源平面的方向上传导。热针法:采用圆柱面热源的热针,是指将电加热元件、测温元件,集合在同一器件上,制成的针状探测器件。表面上和热线法很相似,但后期处理上相对热线法从理论上有很大的不同,精度大为提高。

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    国家市场监督管理总局对《三重串联四极杆电感耦合等离子体质谱仪性能测试方法》等36项拟立项国家标准项目公开征求意见,征求意见截止时间为2024年7月3日。其中,国家标准计划《稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法》由 TC481(全国仪器分析测试标准化技术委员会)归口 ,主管部门为科学技术部。主要起草单位全国仪器分析测试标准化技术委员会 。与国家标准同步制定外文版编号语种翻译承担单位国内外需求情况1EN兰州大学国内外有关荧光光谱仪生产及使用、管理的单位有需求。目的意义荧光光谱仪是一种常用仪器,应用广泛。本项目拟制定出稳态/瞬态荧光光谱仪主要性能测试与评价方法标准,以适应荧光光谱技术的新发展状况,改变现有标准落后于技术发展的局面,推进荧光光谱仪性能测试方法的规范化、标准化发展。范围和主要技术内容范围:本标准规定了稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法。本标准适用于波长范围为 200-900 nm 的稳态/瞬态荧光光谱仪、稳态荧光光谱仪、瞬态荧光光谱仪主要性能测试与评价。主要技术内容:规定了波长范围为 200-900 nm 稳态/瞬态荧光光谱仪的波长准确性、波长重复性、灵敏度、检出限、线性、稳定性、瞬态性能的测试与评价方法。
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    p   1月8日,2018年度国家科学技术奖励大会在人民大会堂隆重举行。复旦大学化学系教授周鸣飞领衔项目“瞬态新奇分子的光谱、成键和反应研究”荣获国家自然科学二等奖。 /p p   该项目专注于通常条件下不能稳定存在的瞬态分子物种。利用自行研制的具有世界先进水平的分子光谱探测仪器,结合量子化学理论计算,项目首次确定元素周期表中元素可以形成的最高氧化态为+Ⅸ价 发现硼-硼三重键(B≡B)及主族元素?-?配键 并观察到一系列全新瞬态反应中间体。项目成果丰富了人们对化学键的认知,为相关分子物种宏观合成提供了新思路。 /p p   清华大学李隽教授,复旦大学化学系王冠军、陈末华副教授,中国科学院上海应用物理研究所龚昱研究员同为该项目主要完成人。项目得到国家重点基础研究发展计划(973计划)和国家自然科学基金等资助。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201901/uepic/e12a2aea-9733-4952-b9e1-8cb3f14e4c71.jpg" title=" 1_副本1.jpg" alt=" 1_副本1.jpg" / /p p    strong 证实+Ⅸ氧化价态: /strong /p p strong   “改变教科书的内容” /strong /p p   “这一发现为许多工业化学反应开辟了新的可能性,更新了成键规则,改变了教科书的内容。”(“The finding opens new possibilities for myriad industrial chemical reactions as well as rewriting the rules of bonding. It changes all the textbooks”)《科学新闻》杂志曾如此评论该项目中发现铱元素+Ⅸ氧化态的研究工作。 /p p   氧化态是化学中常用的基本概念之一,亦是门捷列夫发现元素周期律的重要基础。它是元素的固有性质,能够反映元素在化合物及反应过程中得失电子的能力。100多年来,实验已知所有化学元素最高氧化态为+Ⅷ价,直至四氧化铱正离子([IrO4]+)将之改写。 /p p   尽管具有9个价电子的过渡金属元素铱(Ir)曾被推测最有可能存在高于+Ⅷ价的氧化态,一直以来,实验已知含铱化合物中铱的最高价态却仅为+Ⅶ价。确认铱元素亦可以如钌、锇和氙一般形成稳定的+Ⅷ价态化合物,是周鸣飞等项目研究者的探索起点。 /p p   采用脉冲激光溅射方法产生金属铱原子并和氧气分子反应, 研究者们在惰性氩基质中顺利制备得到中性四氧化铱分子。红外吸收光谱实验结合量子化学理论计算证明该分子具有所有IrO4异构体中最稳定的D2d结构,其中铱具有d1电子组态,处于+Ⅷ氧化态。 /p p   在此基础上,项目组利用自主发展建立的基于串级飞行时间质谱技术的高灵敏红外光解离光谱实验装置,通过对脉冲激光溅射-超声分子束载带技术制备的贴附了 1-4 个氩原子的气相四氧化铱正离子络合物的红外光解离光谱研究,实验证实气相四氧化铱离子具有正四面体构型,其中铱具有d0电子组态,处于+Ⅸ价态。 /p p   从+Ⅷ价态到+Ⅸ价态,化学元素最高氧化态的刷新,令该项研究在2014年10月顺利发表于《自然》(Nature)杂志。美国化学会《化学与工程新闻》(Chem.& amp Eng. News)杂志亦将之评为2014年度十大化学研究。 /p p   据周鸣飞介绍,稳定的高氧化态化合物时常被用作工业反应中的氧化剂和催化剂。若能够找到[IrO4]+离子的宏观合成方法,一些重要的氧化和催化反应应用或有望得到开发。 /p p    strong 发现硼-硼三重键: /strong /p p strong   为零价或低价主族化合物的宏观合成提供新策略 /strong /p p   通过硼原子与一氧化碳分子反应的方法在低温惰性气体基质中首次制备得到的OC-B≡B-CO分子是该项目取得的又一项重要成果。 /p p   尽管在元素周期表中与碳相邻,因价电子数少于价轨道数而被称为缺电子原子的硼却有着与碳截然不同的成键特性,容易形成缺电子多中心键,很难形成多重键。然而OC-B≡B-CO分子却有些“一反常态”:它具有B≡B三键特性,表明硼是继碳和氮元素之后,可以形成三键的第三个主族元素。 /p p   作为一个线性单重态分子,OC-B≡B-CO分子的B-B键键长较之典型B=B双键和B-B单键都要短。成键分析表明,B-B之间包含一个?键和两个?键,B2单元和两个CO配体之间通过类似过渡金属羰基化合物的?-?配键方式结合。这一结果表明过渡金属配位化合物的?-?配键理论可以推广到主族化合物体系,从而为零价或低价主族化合物的宏观合成提供了新策略。可喜的是,采用同样的配位成键策略,德国维尔茨堡大学教授不伦瑞克(Braunchweig)等人利用比CO更大的有机卡宾配体成功合成了室温条件下稳定的具有B≡B三键特性的NHC-B≡B-NHC化合物分子,相关结果于 2012年发表于 《科学》(Science)杂志。在其引文中提到,正是周鸣飞等项目研究者的发现“激起了一阵风似的对B≡B三键分子的理论研究。”(“This finding prompted a flurry of theoretical studies of molecules with B-B triple bonds.”) /p
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