热学性能

一、材料的物理性能材料结构决定性质——材料的电学、磁学、光学、热学、力学、化学等性能是由物质不同层次的结构所决定的。性质决定用途。二、热膨胀系数定义：温度改变ρt ℃时，固体在一定方向上发生相对长度的变化或相对体积的变化。平均线膨胀系数：平均体膨胀系数：注意：热膨胀系数是材料的重要性能，在材料的分析、制备等过程中都需要重点考虑。三、热分析方法热分析测定方法的目的是为了 探测相变过程的热效应并测出热效应的大小和发生的温度。焓和热容是研究过程中重要的参数。常用热分析方法应用最广泛的方法是 热重（TG）和 差热分析（DTA），其次是 差示扫描量热法（DSC），这三者构成了热分析的三大支柱。1.差热分析（DTA）是在程序控制温度下，将被测材料与参比物在相同条件下加热或冷却，测量试样与参比物之间温度差（△T ）随温度T或时间t的变化关系。2.差示扫描量热法（DSC）在程序控制温度条件下，测量输入给样品与参比物的功率差与温度(或时间)关系的一种热分析方法。3. 热重法在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。热重法试验得到的曲线称为热重曲线（即TG曲线）。热分析的应用1.物质鉴定2.热力学研究3.动力学研究4.分析结构与性能关系典型应用1.有序—无序转变的研究Fe-Ni坡莫合金是一种软磁材料。但这种合金接近 Ni3Fe成分范围时既存在有序一无序转变，又存在铁磁-顺磁转变，它们都将出现热容峰。2.测定并建立合金相图建立相图首先要确定合金的液相线、固相线、共晶线 及包晶线等，然后再确定相区。例如，建立一个简单的二元合金相图，取某一成分的合金，用差热分析法测定出它的DTA曲线，见图（a）。试样从液相开始冷却，当到达z处时便开始凝固，由于放出熔化热曲线向上拐折，拐折的特点是陡直上升，随后逐渐减小，直到接近共晶温度时，DTA曲线接近基线。在共晶温度处，由于试样集中放出热量，所以出现了一个陡直的放热峰，待共晶转变完成后，DTA曲线重新回到基线。绘制相图取宽峰的起始点温度T，和窄峰的峰值所对应的温度 T2分别代表凝固和共晶转变温度。按照上述方法测出不同成分合金的 DTA曲线，将宽峰的起始点和窄峰的峰值温度分别连成光滑曲线，即可获得液态线和共晶线，见图 （b）。

仪器信息网讯 2011年3月7日至14日，中国科学院上海硅酸盐研究所的纳米热学-声学显微成像系统亮相国家“十一五”重大科技成就展。 纳米热学-声学显微成像系统 　　上为SThM扫描探针声成像控制仪，下为SThM扫描探针热成像控制仪。 　　在原子力显微镜基础上，中科院上海硅酸盐研究所自主研发了纳米热学-声学显微成像技术，为研究纳米结构、微观弹性和热学特性提供了独特的新方法，实现了其他手段不易获得的结构分析、缺陷检测和热、弹性能评价功能，已在国内外多个高校和科研院所得到应用，推动了显微成像技术的发展。此外，该仪器还获得了2006年中国国际工业博览会银奖。 　　关于中国科学院上海硅酸盐研究所： 　　中国科学院上海硅酸盐研究所渊源于1928年成立的国立中央研究院工程研究所，1954年更名为中国科学院冶金陶瓷研究所。1959年独立建所，定名为中国科学院硅酸盐化学与工学研究所，1984年改名为中国科学院上海硅酸盐研究所。经四十多年的发展，上海硅酸盐研究所已成为一个以基础性研究为先导，以高技术创新和应用发展研究为主体的无机非金属材料综合性研究机构。

1月20日，“LED光学、热学设计与应用联合实验室”挂牌仪式在上海半导体照明工程技术研究中心举行。该实验室由上海半导体照明工程技术研究中心与莎益博设计系统商贸(上海)有限公司联合创建。 　　新成立的实验室作为上海半导体照明公共研发和服务平台的一部分，将为半导体照明企业提供光学和热学设计、模拟和分析方面的技术支撑，为行业内在芯片设计、封装技术和照明应用等领域提供解决方案。同时实验室还邀请了来自美国、日本及中国台湾的知名光学专家作为常年技术咨询顾问，定期开办各种技术讲座，普及LED照明关键技术和设计检测方法。 　　 　　图1 揭牌仪式 　　莎益博公司总经理王伯华和上海市科委高新处处长助理方浩博士为实验室揭牌。半导体照明已成为世界上发展最迅速、节能环保效果最显著的新兴领域之一，它的发展给全球照明技术带来了新的革命。 　　日本CYBERNET集团是全球最大的CAE (Computer Aided Engineering)技术服务公司，专业提供CAE 软件、行业解决方案及相关技术服务。上海半导体照明工程技术研究中心是上海市半导体照明产业发展的中坚力量，聚集了一批优秀科研人才，并取得了一系列研究成果和各项专利。莎益博公司与中心共建“LED光学、热学设计与应用联合实验室”，就是要统筹力量，集中优势，推动这一研究领域在更高水平、更高层次上健康、有序、快速地发展。共同就LED光学、热学及应用技术的研究展开深入探索，提高上海市半导体照明产业的研发水平。 　　联合实验室同期举办了《LED照明设计及光学检测技术培训》，邀请了美国Radiant Imaging公司光学检测专家Gary R. Pedeville 先生、飞利浦中国吴鹏博士以及莎益博高级工程师黄健，就光学测量系统、LED光学特性测量、LED灯具配光设计进行了技术讲解。来自武汉、秦皇岛以及江浙沪地区共计70多人参加了此次培训。培训过程中，学员认真听讲，积极提问，对光学测量和设计表现出了浓厚的兴趣。 　　 　　图2 美国专家Gary先生现场讲解光学检测技术 　　莎益博公司隶属于日本Cybernet集团，在CAE技术领域有23年的服务经验。在光学和电子产品开发设计和验证技术服务方面积累了10多年的经验。拥有LED照明路灯日本专利，在TFT-LCD显示背光系统的光学设计与检测方面，为日本SONY，Panasonic，Sharp，JVC提供了全面的技术支持。