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金相检测是用来评价热喷涂涂层质量的重要手段之一，通过金相检测，可以直观的观察到涂层的组织结构、涂层的如孔洞、裂纹、夹杂物等缺陷情况，以及涂层与基体结合情况，从而判定涂层的质量优劣。 我们以应用较为广泛的TSC和TBC金属防腐涂层为例，来探讨其金相样品的制备方法。方案
热喷涂涂层中涂层组织结构检测方案(磨抛机)
其他 | 理化分析
耗材/配件 美国QMAXIS金刚石磨盘
美国MetLab手动单盘金相抛光机
前处理设备 METPOL-1V -
金相研究在金属和钢铁制造过程、航空航天和汽车工业、机械工程、建筑以及大量工业和消费品的制造中都至关重要。无论是探伤、开发新型合金材料,还是质量控制以确保钢的纯度,显微镜检查在每个金相实验室都必不可少。 在严格的标准和规范中都规定要测量某些参数（例如体积分数、涂层厚度和晶粒尺寸）。依据如下标准: 晶粒度 DIN EN ISO 643, ASTM E112 涂层厚度 DIN EN ISO 1463 体积分数 ISO 942, ASTM E562方案
硬度计中的金相显微镜模块对金属材料进行定量金相分析
耗材/配件 维氏硬度计布氏硬度计配件/物镜
荷兰轶诺硬度计 | 布洛维多功能硬度计NEMESIS 5100 G2
检测仪器 NEMESIS 5100 G2布洛维硬度计 -
热喷涂涂层金相 热喷涂涂层的应用是为了改善基体材料的抗氧化、抗腐蚀、抗表面磨损和抗烧蚀能力。有涂层金属部件的准确表征要求对其显微组织进行金相检验。涂层的厚度范围从0.002至0.060英寸 (0.005至 1.5mm) 并用不同的喷涂技术和参数沉积到基底上。必须用金相制备技术准确地确定显微组织特性。由于一些涂层的脆性本质和孔隙的存在并在涂层构成了很不相同的硬度，在金相制备中总是有可能无法显示出真实的显微组织或引入假象，从而对涂层特性作出错误的诠释。方案
热喷涂层中金相制备检测方案(切割机)
前处理设备 美国标乐 Buehler | EcoMet 30 磨抛机 前处理设备 Cast N' Vac 1000 真空镶嵌机 检测仪器 维氏/努氏硬度计VH1102/1202 | 美国威尔逊硬度计
美国标乐 Buehler | IsoMet HS 高速精密切割机
前处理设备 IsoMet High Speed -
采用LaVision公司的阴影法粒子粒径和速度测量分析系统，对液滴脉冲管液态D2工具钢液滴，在下落，冷却，固化过程中的液滴粒径和温度参数进行了测量，并和其它类型测试设备进行了对比分析。方案
液态金属中液滴粒径和温度检测方案(激光粒度仪)
其他 | 理化分析
外设/附件 LaVision DaVis 智能成像软件平台
LaVision ParticleMaster-Shadow 粒径测量系统
检测仪器 SizingMaster-Shadow -
热电材料的热电效率通常通过定义热电优值zT来评估，为了实现较高的热电优值，材料必须要用具备高的塞贝克系数，高的电导率和低导热系数。由于良好的热电材料能够对能源产业带来巨大的收益和贡献，目前许多科研团队仍然在努力研究发掘新的热电材料以及了解热电材料的机理。上海高压科学研究中心的PPMS用户利用PPMS系统自带的TTO热输运测量选件对半哈斯勒合金FeNb0.8Ti0.2Sb进行了强磁场低温环境下的研究，来对其在高温区的良好的热电效率机理进行研究。方案
半哈斯勒合金FeNb0.8Ti0.2Sb中电阻率、塞贝克系数、热导率热电性能检测方案(磁学测量系统)
其他 | 理化分析
耗材/配件 PPMS热输运测量选件
PPMS 综合物性测量系统
检测仪器 PPMS -
文章揭示了目前热电材料在液化天然气能源领域100K-300K温度的应用前景，并对BiSb多晶材料的制备过程进行了讨论，分别用不同热处理办法对材料加压加热。随后对两个加压形变材料进行研究和分析，利用PPMS热输运选件对4种样品进行了100-300K温度范围的热电性能进行了测试。由于采用粉末和脉冲电流烧结(PECS)方法制备的材料，二次PECS处理烧结Bi球团的形变引入了位错和孪晶畴。由于缺陷可作为声子晶格散射点，导致热导率降低，但同时致密化加压使得样品的电阻率降低从而使得ZT值提升了1.5倍。因此为了获得更高的ZT值，必须了解声子散射的机理，优化缺陷的分布、密度和尺寸。方案
Bi0.82Sb0.18块材多晶中低温热电性能检测方案(磁学测量系统)
其他 | 理化分析
耗材/配件 PPMS热输运测量选件
PPMS 综合物性测量系统
检测仪器 PPMS -
BET法适用于II型（分散的、无孔或大孔固体）和IV型（介孔固体，孔径在2nm~50nm之间）的吸附等温线。气体分子难以到达的孔隙，其表面积测试不到。BET法不能有效地应用于对气体分子有吸收性的固体。该方法涉及固体颗粒外部和可达到的内部孔隙表面形成单分子层的吸附质或吸附气体定量的测定。可用BET公式根据吸附等温线求出试样表面气体单分子层的吸附量。方案
氧化铝中比表面积检测方案(比表面)
其他 | 理化分析
检测仪器 安东帕康塔全自动高压吸附分析仪iSorb HP 检测仪器 安东帕康塔压汞仪PoreMaster 检测仪器 安东帕康塔全自动程序升温化学吸附仪 检测仪器 安东帕康塔振实密度计
安东帕康塔全自动比表面和孔径分布分析仪Autosorb-iQ
检测仪器 Autosorb-iQ -
全新的Autosorb 6iSA全自动比表面积和孔径分布分析仪提供了六个端口，可进行1-6个样品的独立分析，能满足实验室快速准确的比表面积和孔径高通量分析需要。各分析站拥有独立的专用压力传感器、杜瓦瓶、冷却剂液位传感器和吸附饱和蒸汽压测量站，使各分析站能独立同时操作。基于Windows的操作软件，符合医药行业CFR-21 Part11标准，可提供执行大量数据分析的方法，包括单点和多点BET比表面积、朗缪尔比表面积，孔体积和孔径分布，微孔面积，总孔体积以及许多其他功能。现代数据通信提供了便捷的输入输出设置。方案
固体氧化铝中比表面积检测方案(比表面)
其他 | 理化分析
检测仪器 安东帕康塔压汞仪PoreMaster 检测仪器 安东帕康塔气体渗透法孔径分析仪POROMETER 3G
安东帕康塔高真空气体吸附分析仪 Autosorb 6X00
检测仪器 Autosorb 6200/6300 -
Metals alloys and ceramics have a place in almost all of global manufacturing. Whether it is the turbine blades in a jet engine, the ceramic brake pads on a sports car or the steel cables for a suspension bridge, understanding the composition and structure of these materials is critical in understanding their properties.方案
材料中成分和结构检测方案(扫描探针)
其他 | 理化分析
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检测仪器 麦奇克激光粒度仪 S3500系列 检测仪器 麦奇克纳米粒度及Zeta电位仪 检测仪器 Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪
麦奇克湿法粒度分析仪 S3500SI
检测仪器 S3500SI -
电位滴定法测定电镀镍溶液中硼酸的含量 应用资料 硼酸是多元弱酸，不能用碱直接滴定，可用甘露醇或甘油等多羟基有机物与硼酸生成较强的络合酸，以玻璃电极为指示电极，饱和甘汞电极为参比电极，用氢氧化钠标准滴定溶液进行电位滴定。溶液中加入亚铁氰化钾将镍离子络合掩蔽，消除镍离子生成氢氧化镍沉淀对测定硼酸的干扰。方案
电镀镍溶液中硼酸含量检测方案(自动电位滴定)
其他 | 理化分析
检测仪器 AT-710M 四通道旗舰型自动电位滴定仪
AT-710S 豪华型自动电位滴定仪
检测仪器 AT-710S -
本文介绍了一种闪光法热扩散系数测试规范——闪光能量外推法，即在样品恒温阶段采用一系列不同大小的闪光脉冲加热能量进行测试，然后将相应的热扩散系数测试结果外推至零加热能量，由此准确得到与试验参数（样品厚度和加热能量）无关的热扩散系数准确值。方案
金属非金属材料中热扩散系数，热扩散率，导热系数，热导率检测方案(导热仪)
其他 | 理化分析
检测仪器 下落法中温量热仪/比热容测定仪
超短脉冲闪光法薄膜热性能测定仪
检测仪器 ULP-02 -
本文利用岛津公司DUH-211s对三个不同硬度标准块的表面硬度进行测试。一方面验证了DUH-211s在极小加载力的时候仍能 够得到较精准的数据；另一方面由于压痕较小，对于一些不能使用维氏硬度计测量硬度的薄膜材料，可以使用DUH-211s超显微硬度 计进行测试。方案
标准硬度块中硬度值检测方案(万能试验机)
其他 | 理化分析
MCT系列微小压缩试验机
检测仪器 MCT系列 -
Introduction There is increasing need for the micro-analyst to correctly determine chemical composition of regions on the sub-micron scale. Field emission SEMs offer an ideal tool for these tasks due their excellent spatial resolution and high brightness sources. However, in order to analyze these types of samples the accelerating voltage of the electron beam is commonly in the range 1-5kV. Traditionally when working at these voltages low count rates necessitated the use of EDS detectors with large crystals to maximize collection solid angle. Analysis using EDS at low kV is, however, complicated by the large number of overlapped X-ray lines seen in this part of the spectrum. New field emission SEMs that offer high currents at low kV are opening new opportunities to use the higher spectral resolution and sensitivity of WDS to analyze samples on the sub-micron scale.方案
材料中高空间分辨率显微分析检测方案(扫描透射电镜)
其他 | 理化分析
牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱
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