如何将物品表面电荷分布（25cm×40cm）通过无损检测以图片形式显示？

请大家帮帮忙

嘿嘿
又看到这篇帖子了
还发在国家纳米中心了吧

本原做spm也有十五、六年历史了
吴老师也想不出有什么好办法
想必spm很难按照此要求得出结果

不知道有没有世外高人能用spm做得到
又或者用其他方法来测量

我也很想知道解决的办法

生产静电力显微镜或扫描探针显微镜的厂家应该有答案.

静电力显微镜也属于扫描探针显微镜这一大类
不是不能做电荷分布的测量
问题是其要求那么大范围的扫描还要保证分辨率
任何扫描探针显微镜也做不到
如果对分辨率要求不高
倒是可以询问一下DI或者精工的工业用的SPM
据说可以放置8～12英寸的样品
不过价格十分昂贵

如果不要求一次对全范围成图的话，可以采用粗逼近与扫描相结合的方式。扫一张图以后平移一段距离再扫第二张......最后拼出一张全图。如果有定位精确的粗逼近装置和保证足够小的漂移，编个自动扫描的程序。这么做并不难。
据我所知，Omicron展示过一个图片，是四张STM图，每张之间差十几步的平移。最后拼在一起。

问题是实现了有多大意义？几十厘米长宽的范围，还要原子尺度的电荷分布，这是多大的数据量？这么大的数据量后期怎么处理？
与其得这么一张图还不如采取传统做法，先大范围确定感兴趣区域，然后缩小范围。
个人意见，仅供参考。
另外楼上说没有SPM能做到，似乎欠妥。

多谢楼上仁兄指正
我的确没有听过哪个SPM厂家可以做到这样
如果还有这样的资料也请发一份给我
不胜感激

这个问题看起来好像不难
但是如果你深入了解探针的逼进就会知道这是多难的一件事情
关键就在于探针的逼进控制
它不是一上一下的直接逼进
需要走一个轨道的
再加上原子分辨这样的高精度
如何控制探针的再次逼进能恰好跟前一幅图吻合
因为扫了一幅图之后必须退针、移动样品、再逼进
光是移动样品进行定位就需要极高的精度
更何况探针逼进轨道存在不可预测因素

SNOM（近场光学显微镜）似乎经常用到这种技术

呵呵，我也是靠STM骗的学位，所以对SPM比较感兴趣，和您讨论一下。
就我所知道的粗调定位方式，包括机械的蜗轮蜗杆，惯性步进，还有其他的一些inchworm，压电步进器等只从书上看到过。不知道您们采用的是何种方式？
我觉得机械往往有螺距差，但是结构简单。惯性步进没有螺距差，而且步幅大小可调，但是加工复杂，加工得不好就会出现盲区。这两种我都用过（当然没有制造过。:-），精度各有不同，但是基本上都能实现退针后原位重入，也就是说大范围的图上能找到对应区域。不知为什么您觉得这个很困难？