第1楼2005/03/25
由于塞满效应背景校正内容繁多,今天来不及系统说明。两种方式在克服光谱干扰方面,背景校正性能方面都较一致,简单比较区别如下:
交流塞曼
1。 需要另一组能源,可能造成磁场不稳定的因素,带来一些测定噪声
2。灵敏度略高
3。 线性范围略大
4。 不易观察到灰化过程 (有用附加氘灯观察灰化过程的仪器)
5。 纵向磁场情况下可以有较高的能量(不用棱镜)
6。 不能实现“同时“背景校正 (调制需通过磁场开和关)
直流塞曼
1。恒定磁场,信号干扰小
2。灵敏度略低
3。线性范围略窄
4。可以观察灰化过程
5。恒定磁场不可能使用纵向方式
6。可以实现同时背景校正
不会左右分栏,只能打成这样上下同样的条目比较,差别不大,不要太过。
以上只是“粗浅”,仅供参考。