【求助】求助（有这样问题的人应该会很多）

是阁下没好好看吧，黄老师不大可能把话说死。
阁下要有基本常识，XRD用来分析晶粒大小和微观应变均不可信，除非你保证很多前提均能满足，比如仪器状态，样品颗粒范围等等，在二者同时混杂时更难以辨析，想通过拟合来同时获得晶粒大小和微观应变这两个信息很不现实。

用哲学观念来讲，人不可能两次踏过这条河！

用scherrer公示啊！

不知道你提到的黄老先生是不是本人，很可能不是，因为我还不是老先生。

不过，就我所知，我还是来说上两句。

确实，无论你从理论还是从计算结果来看，我们都可以看出，不同的晶面计算出来的晶粒尺寸是不同的。但这种不同，不存在数量级上的差别，只是小数点后面有点差别而已。我总觉得，我们整天说的一个概念“晶粒尺寸”是一种误导或误传，其实，从谢乐公式计算出来的根本就不是什么晶粒的尺寸，只是某一晶向上的长度。
既然，从不同的晶面计算出来的结果有差别，那么我们就得承认这种差别，因此，人们就想到从同一方向上的不同级衍射就没有差别了。这就是建议，仅仅是建议使用同一方向不同级数衍射来计算的原因。

但是，上面也提到，这种差别很小，我们当然也就可以忽略它们的差别而用“平均晶粒尺寸”来进行全谱拟合。在我写的手册中说明了，这样计算出来的是平均晶粒尺寸。

如果你还不能理解，欢迎你下面的这个地方去看看：谢乐公式带来的烦恼：

http://user.qzone.qq.com/406089079