【求助】高温AFM成像

样品加热很对压电扫描器有一定的影响，
如果是下扫描AFM的话，且加热温度高的话，
加热台与扫描器之间的绝热要做好。

另外，加热过程中，需要将针尖从样品上抬起，
否则可能会由于热胀效应损坏针尖。
扫描过程中最好不要变温，否则会有较大的漂移。

个人看法，欢迎补充

谢谢您的建议！
后面几点都能做到，但不太清楚什么是下扫描和上扫描？

针尖扫描式称为上扫描，
样品扫描式称为下扫描

另外选择探针也要注意，一般探针的材质是si，或Si2N3，为了增强其对激光的反射性，会在悬臂上增加金属镀层。由于金属和硅的热膨胀系数不同，会引起探针弯曲变形。所以选择探针时，可以选用不带镀层的探针。