仪器信息网APP
选仪器、听讲座、看资讯

【求助】如何测定大于99.996%高纯铝中的杂质硅?

  • chauchylan
    2009/02/28
  • 私聊

直读光谱

  • 由于从未使用过光电直读,还望大家多指点,谢谢!
    仪器型号是ARL Quantris,使用的是CCD检测器.
    现手头有仪器附带的Set-up Standard,其标样证书标有26个元素,其含量如下:
    Antimony<0.0001, Beryllium<0.0001,Bismuth<0.0001,Boron<0.0001,
    Calcium<0.0001, Cadmium<0.0001,Chrommium<0.0001,Cobalt<0.0001,
    Copper(0.0003),Ga<0.0001,Iron(0.0003),Lead<0.0001,Lithium<0.0001,
    Manesium<0.0004,Manganese<0.0002,Nichel<0.0001,Phosphorus<0.0001,
    Silicon(0.0004),Siver,Sodium<0.0001,Strontium<0.0001,Tin<0.0001,
    Titanium<0.0001,Vanadium<0.0001,Zirconium<0.0001
    待测样品中的硅含量大约为0.0007左右,此外这台光电直读很久没用了,我想问一下,这块Set-Up standard主要是用于做什么的,此外,可否用仪器软件内置的曲线直接进行分析,其准确度如何?
    先谢谢各位了!
    +关注 私聊
  • ARL

    第1楼2009/03/01

    关键要看你现有的曲线各元素测量范围。你说的这块样品是高低标样,和曲线测量范围是两回事!
    能说你是哪个单位的吗???

0
    +关注 私聊
  • chauchylan

    第2楼2009/03/01

    谢谢您的回复.
    对硅而言,选择不同的线,其测量范围也不一样,有一条能测到0.0004%,那那块Setting-up Standard 应是低标了吧...可否具体说一下测量步骤??若无标样,可否直接测?单位我想不太方便说,还望见谅!
    谢谢!

    sdjngq 发表:关键要看你现有的曲线各元素测量范围。你说的这块样品是高低标样,和曲线测量范围是两回事!
    能说你是哪个单位的吗???

0
    +关注 私聊
  • 云☆飘☆逸

    第3楼2009/03/02

    应助达人

    买2块高纯金属铝块,如果有SI的值更好,没有就用ICP-MS测定后就可作为内控样品(建议同时送3家测定)
    分析前进行仪器的光路,方法校正(高低标),首先运行自身的低标,和内控样品。看看分析数值是否满足要求,是否存在系统偏差,如果有,进行内控样校正。
    一般问题不大,因为高纯物质,基体效应几乎一样。

0
    +关注 私聊
  • chauchylan

    第4楼2009/03/02

    非常感谢您的回复!
    上述的那个标样应是低标吧,高标如何选?是不是任意一个高标都可以?
    那我应先用高低标进行曲线校正,然后测一个标样,若与标样结果相差不大,则进行高纯铝的分析,这样对吗?谢谢..

    denx5201314 发表:买2块高纯金属铝块,如果有SI的值更好,没有就用ICP-MS测定后就可作为内控样品(建议同时送3家测定)
    分析前进行仪器的光路,方法校正(高低标),首先运行自身的低标,和内控样品。看看分析数值是否满足要求,是否存在系统偏差,如果有,进行内控样校正。
    一般问题不大,因为高纯物质,基体效应几乎一样。

0
    +关注 私聊
  • 云☆飘☆逸

    第5楼2009/03/05

    应助达人

    高标以曲线硅含量最高点附近为佳,你说的很对,先校正,在打内控样和高低标,如果没有较大差异,直接分析,如果有系统偏差,用平均校正系数换算即可。

0
    +关注 私聊
  • chauchylan

    第6楼2009/03/07

    非常感谢您的回复.

    denx5201314 发表:高标以曲线硅含量最高点附近为佳,你说的很对,先校正,在打内控样和高低标,如果没有较大差异,直接分析,如果有系统偏差,用平均校正系数换算即可。

0
    +关注 私聊
  • gengjinshan1

    第7楼2013/02/06

    你好,我问一下我们买的5个9的高纯铝怎么1+1的HCL怎么溶解不了啊,没有剧烈反应啊,谢谢,看你是这方面的专家引用20975.25-2008标准

    云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:买2块高纯金属铝块,如果有SI的值更好,没有就用ICP-MS测定后就可作为内控样品(建议同时送3家测定)
    分析前进行仪器的光路,方法校正(高低标),首先运行自身的低标,和内控样品。看看分析数值是否满足要求,是否存在系统偏差,如果有,进行内控样校正。
    一般问题不大,因为高纯物质,基体效应几乎一样。

0
    +关注 私聊
  • 老头

    第8楼2013/02/06

    最重要的是在制样是不要有污染!!仪器的能力不必怀疑,除非您的仪器太差了。老头

0
    +关注 私聊
  • mlb2003

    第9楼2013/02/06

    仪器的能力必需要怀疑

    老头(shguan) 发表:最重要的是在制样是不要有污染!!仪器的能力必要怀疑,除非您的仪器太差了。老头

0
    +关注 私聊
  • hushengping

    第10楼2013/05/03

    该标样是用来校准像素的。校准像素的标样一般是用超纯的基体标样,因为基体越纯,那么杂质元素的谱线对基体谱线的干扰越小,那么像素校准就越准确。
    该样品是无法被该仪器准确测量的,因为CCD检测器的直读光谱仪的检测下限是不会那么低的,一般能达到0.0005就相当不错了,而且是在测试条件要求相当苛刻的情况下才能达到的(标准实验室),在实际用户中基本无法实现。
    因此该样品只能用来校准像素,出来该功能没有其他意义了。呵呵。。。

0
查看更多
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
举报帖子

执行举报

点赞用户
好友列表
加载中...
正在为您切换请稍后...