祥子
第1楼2009/05/18
我觉得主要是信噪比的问题。
就像你说的,200nm,220nm,340,370nm.,都是仪器检测的能量很低的位置。
厂家可能会针对自己的仪器,选取不同的测试点,依据主要也是哪个位置的能量低。
比如100根光线(信号强处)中,有2根是杂散光,那影响不大。
但假如是10根光线(信号弱处)中有2根杂散了,那仪器就明显会不稳定了。
在李昌厚的书上给出了一个杂散光引起的误差的公式
误差△A = lg[(1+ 10A*S)/(1+S)]
其中,A是真值,S = Is/I。
Is是杂撒光总的强度。I是测量波长下透过参比液的辐射强度。
最理想的,S≈0时,△A≈0。
jelly98
第5楼2009/05/22
我的观点和tony81一样,我指的是光栅高级别光谱,对低级别光谱的干扰。对整机杂散光而言,我们还需要考虑光源是否能发出那些高级别的光谱能量,检测器是否能检出那些高级别的光谱能量。
但我并不同意tony81说的国内仪器大都作假的观点,也许有,但绝不是主流。那些作假者只是一颗老鼠屎而已。不要随便怀疑一切,做好自己的本份。