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【分享】SEM最新进展：Imaging single atoms using secondary electrons with an aberration-corrected electron microsc

扫描电镜（SEM/EDS）

  • A new type of scanning electron microscope with aberration correction allows a resolution of 0.1 nm. The instrument also allows for simultaneous imaging of atoms on the surface and in the bulk of a sample, which represents a real breakthrough in the field.

    Nature Materials 8, 808 - 812 (2009)
    Published online: 20 September 2009 | doi:10.1038/nmat2532
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  • 社区=冬季=

    第1楼2009/10/03

    不懂英语，楼主能大概解释下？

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  • RoadCH

    第2楼2009/10/04

    很感兴趣，有谁能下载到这篇文献，帮忙传到网上，谢谢啊！

    alpha544 发表:A new type of scanning electron microscope with aberration correction allows a resolution of 0.1 nm. The instrument also allows for simultaneous imaging of atoms on the surface and in the bulk of a sample, which represents a real breakthrough in the field.

    Nature Materials 8, 808 - 812 (2009)
    Published online: 20 September 2009 | doi:10.1038/nmat2532

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  • huangtao0307

    第4楼2009/10/08

    是不是忘傳附件了﹐沒看到東西啊﹖﹖

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  • 该帖子已被版主-huangtao0307加5积分，加2经验;加分理由:感謝分享
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  • alpha544

    第6楼2009/10/09

    重新上传了一份，包含文章的补充信息（Supplementary information），
    在pdf的附件中。
    需要用adobe acrobat professional 打开

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  • RoadCH

    第7楼2009/10/09

    本文中的几位作者Inada（稻田）和Nakamura（中村）应该是日立高新技术公司设计部门的吧？

    alpha544 发表:A new type of scanning electron microscope with aberration correction allows a resolution of 0.1 nm. The instrument also allows for simultaneous imaging of atoms on the surface and in the bulk of a sample, which represents a real breakthrough in the field.

    Nature Materials 8, 808 - 812 (2009)
    Published online: 20 September 2009 | doi:10.1038/nmat2532

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  • wildonkey

    第8楼2009/10/15

    我晕 原来是给200kv削球差TEM上加个SE探头看TEM样品而已 我还以为是用不超过30kv电压看普通样品呢

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  • sartre

    第9楼2009/10/15

    从原理上，你认为可行么？

    wildonkey 发表:我晕 原来是给200kv削球差TEM上加个SE探头看TEM样品而已 我还以为是用不超过30kv电压看普通样品呢

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  • naiqnaiq

    第10楼2009/11/30

    O(∩_∩)O谢谢楼主~~~

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