【讨论】Z衬度对元素的含量的分辨率

你的图像不像是Z-contrast image，并不是所有的ADF STEM都可以说是HAADF，你的图像看上去有不少diffractoin contrast...

确实有衍射衬度，仔细看能分辨出一些不同取向晶粒来。对晶体材料，尤其在低倍的时候，STEM像里面肯定夹杂有衍射衬度在里面。但是图中黑的区域从形状，大小看与Ni的基体都是不同的，我想黑白衬度主要来源还是应该是成分的影响吧！

你要区分Z-contrast image和STEM image的区别。只有HAADF才可以称为Z-contrast image， 而不是所有STEM都是Z。。。你显示的如果是STEM image，那应该是BF，如果当时你当ADF做的，那就是你的beam打到ADF detector了。
“尤其在低倍的时候，STEM像里面肯定夹杂有衍射衬度在里面”，说这话可要小心，做ＨＡＡＤＦ有ｄｉｆ　ｃｏｎｔｒａｓｔ只能是是你没有做好，或者倍数太低扫描范围太大，导致不能称为HAADF。anyway，如果你做好的HAADFimage，是肯定不是你显示的这个的。

请教高手一下，需要注意哪些问题，才能减少衍射衬度，获得“好的HAADF image”。
是用HAADF探头收集的，是在4万倍左右收集的。
另外不知道低倍是多低，是只有能够分辨原子的HAADF像才能叫Z-contrast image吗？我不知道大家打能谱时一般是怎么做的，我们一般都是在STEM模式下收集一张HAADF像，然后做点扫，线扫，面扫的。因此对成像条件一般没有特意注意过。

1，因为样品薄厚不均，HAADF图像中除了包含Z衬度外，还有质厚衬度。三个点能谱结果相同，明暗度却不同，我的推断是：三个打点的位置均是同种材料，而亮点处的厚度偏高。欢迎大家提出不同意见。

2，为了验证1中的说法，可以利用明场的透射斑成像，也可用HAADF做明场像（质厚衬度）。方法为，用物镜光阑挡住diffracted beam，然后用bright field tilt，将中心亮斑偏转到HAADF的环形探头上。

3，为了降低低倍STEM图像中的衍射衬度，是否可把晶体倾转到偏离晶带轴的方向？这样就可避免STEM图像中的衍射衬度，从而得到更纯粹的Z衬度？

看过一些高分辨STEM的图像，和一般的电镜图片相比，非常有特色。

首先，高分辨STEM能在依靠Z衬度成像的基础上，分辨出晶格条纹。（说的有点拗口，解释的比较意识流，想到哪说道哪）
换句话说，从图像的明暗对比中能分辨出晶格条纹，同时，明暗程度代表了Z contrast（买一赠一）。
其次，第一眼看上去，高分辨stem看起来像阴天的乌云，没有明显的界面，之后雾蒙蒙的过渡。
最后，高分辨stem一般都有样品飘逸问题，所以晶格像一般都有些畸变（晶格的整体飘逸。反映在图像上，和扫面电镜的样品飘逸类似）。
说的不对的地方，还请大家指出。

我不是高手，只是稍微知道一些。HAADF和Z-contrast imaging是不同的表示，因为命名这个技术的人or组不同而已。HAADF，顾名思义，必须是high angle的ADF，你在STEM mode下用的detector叫ADF，not HAADF，只有DSTEM才有可以称作是HAADF 的 detector，当然平时大家习惯叫HAADF detector，那确实容易混淆。你用的是什么电镜？如果jeol2010之类的，一般用camera length 2cm可以基本确定为HAADF，如果是Fei的（我只知道Titan）那么应该用最小的，2.7cm的camera length。这个和倍数没有关系，但是在低倍下，scanning coil扫描的面积更大，你看到（jeol）beam会来回晃动（Titan上可以限制这种晃动，Jeol的机器上好像是没有），从而打到你的detector上，这也就是你所显示的图片。你去看看pennycook，browning 或者mueller的paper就会了解一些了。你所得到的图片可以用来做线扫之类的，但是分析图像的时候你得确认是否真的是Z-contrast才行。

[quote]原文由 penguinle(penguinle) 发表:1第一句是对的，但是结论不对。如果你看过低倍下的z-contrast img,你就会知道因为厚度而引起的contrast绝对不是楼主图片上的。他的图片很明显是BF ADF，不会是z-contrast。
3.HAADF是STEM的一种，并不是所有的STEM都是HAADF。atomic resol的STEM需要在zone axis上，否则的话只看Z contrast和zone axis没有关系，在HAADF你怎么tilt contrast都是一样的（thickness会变化，但是contrast不会变）

又看了看楼主的图，确实应该是明场。