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【求助】求教XRF可否用于定量SiO2,多谢!

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 求教各位专家,是否通过XRF可以测出样品(SiO2纯度在95%以上的固体粉末)中的SiO2含量呢?多谢!
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  • hsteel

    第1楼2010/03/30

    这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。

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  • cochrt

    第2楼2010/03/31

    谢谢您的指教!请问误差会有多大呢?

    hsteel(hsteel) 发表:这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。

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  • hsteel

    第3楼2010/03/31

    采用熔融法制样,以本人使用XRF和做硅石的经验,完全可控制在国标允许的误差范围内,不知你的误差要求是多少?

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  • babala263

    第4楼2010/05/05

    这个含量段的,制样情况标准的话,可以到0.1%。

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  • jinglebell1983

    第5楼2010/05/05

    学习了,谢谢

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  • tyrantgqy

    第6楼2010/05/07

    95%+的石头,精度要求+-0.1% 有难度阿 理论上含量越高,仪器的误差也会放大。0.5%+-能接受哇?
    不知道其他人怎么觉得的。

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  • alexli77

    第7楼2011/05/06

    同意楼上的观点,0.1%有难度

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  • 金水楼台先得月

    第9楼2011/05/06

    你一般能做到多少?

    alexli77(alexli77) 发表:同意楼上的观点,0.1%有难度

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  • XRF_INFO

    第10楼2011/05/06

    压片法肯定误差比较大。最好用熔片法,而且熔片前要确保样品颗粒足够细!!!

    cochrt(cochrt) 发表:谢谢您的指教!请问误差会有多大呢?

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  • 金水楼台先得月

    第11楼2011/05/07

    压片法做这么高的含量的Si,应该容易超差的,粒度200目够了吧

    XRF_INFO(xrf-info) 发表:压片法肯定误差比较大。最好用熔片法,而且熔片前要确保样品颗粒足够细!!!

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