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【讨论】ICP 干扰

  • 1076443939
    2010/04/30
  • 私聊

ICP光谱

  • 一、非光谱干扰
    1、溶液密度和溶液粘度,主要是对样品提升速度的影响
    2、化学干扰,主要是化学键能的大小各不相同,影响到挥发和原子化,是得观测高度发生变化。
    二,光谱干扰
    1、背景干扰,主要是来自光源的连续光源、水分子引起的OH带光谱、引入的氮和有机物形成的NO、NH、CN、CO带光谱等
    2光谱线重叠干扰
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  • steven_lly

    第1楼2010/04/30

    光谱干扰一直很头痛,真正要去做的话,很麻烦,所以有时只能选用其他仪器如AAS进行测试。

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  • gototo

    第2楼2010/05/01

    我现在正着手解决的基体的干扰!

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  • hbmy2008hbmy

    第3楼2010/05/02

    基体干扰解决不难,你每次加的消解试剂对每个样品都要一样,包括试剂空白
    至于光谱干扰,很难解决啊!
    我用PE ICP-OES 2100DV,资料上说可以用EEC和MSF校正,可是操作起来不太容易;有没有牛人给我指点哈迷津?

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  • chemistryren

    第4楼2010/05/03

    ICP的光谱干扰大于化学干扰。。AAS相反。

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  • liyongdeng

    第5楼2010/05/04

    溶液密度和溶液粘度,对样品提升速度影响,也影响雾化效率.PE ICP-OES 2100DV,可以用IEC和MSF校正,但太麻烦了,遇到光谱干扰的问题还是把这类材质记下来,换波长测,以后这样的材质就用换过的波长.

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  • 千层峰

    第6楼2010/05/04

    做好一个MSF模板就可以了,IEC是针对完全重合的两个光谱图的,一般用不上

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  • 未来的元帅

    第7楼2010/05/04

    应助达人

    钢材中铅测定一直有问题,还没想出办法来去除基体干扰

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  • popo

    第8楼2010/05/05

    配置一个基体一致的标液来进行匹配

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  • chemistryren

    第9楼2010/05/06

    这个还好吧,,毕竟蠕动泵是强制进样的.

    liyongdeng(liyongdeng) 发表:溶液密度和溶液粘度,对样品提升速度影响,也影响雾化效率.PE ICP-OES 2100DV,可以用IEC和MSF校正,但太麻烦了,遇到光谱干扰的问题还是把这类材质记下来,换波长测,以后这样的材质就用换过的波长.

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  • chenyue9119

    第10楼2010/05/06

    请问你研究过MSF吗,研究过的话能不能讲一讲,或者提供一些资料呢

    jxyan(jxyan) 发表:做好一个MSF模板就可以了,IEC是针对完全重合的两个光谱图的,一般用不上

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