【讨论】能谱定量结果差异

是什么基底？有什么元素干扰？做定量好像没有系统默认的说法吧。

首先在相应界面设置Ni的L线系，然后“最优化”就可以了。

我们采用的是BRUKER公司的SDD检测器，界面中可以选择是采用K线系还是L线系进行定量计算，是否选择L线系后需要做一个最优化处理？

一定要做最优化

学习了 以后自己做就知道了

这个不好说，因为楼主并未给出其他信息，只说“Ni元素定量分析”，没有说是粉末，薄膜，还是体材料，要是薄膜，那厚度多少，什么衬底？加速电压，多少。都没讲，而且，似乎有的老师，很信赖机器自身带的什么优化软件。。我从不会说任何机器不好，也不会说谁的软件不好。

只想说，没有进行标准样品校准后的测试结果，都有或多或少的误差，无论是K线还是L线。

那个“优化”咱没用过，没有发言权，不晓得它有多厉害。当然，进行了“优化”之后也许会准确些，但我奉劝新手不要迷信。

即便是 测试时，K、L两个线系的数据很相近，也不能说明其测试结果的精确性一定很符合实际真实值。。。，要不咋跟你说是STANDLESS，ZAF，半定量分析嘞。。。

是不是有重叠峰？如果没有重叠峰，用K系和L系的定量应该不会太大吧。

JSM6510
调节工作距离有好几种方法，若采用自动调节键，Auto focus，
不会改变样品和探头之间的距离，这就会产生一些问题
例如，打能谱时，可能由于样品和探头距离太远，使探头无法收集到足够的信号
所以，如果样品要打能谱，手动调节样品和探头的距离效果比较好

回复6#



这个不好说，因为楼主并未给出其他信息，只说“Ni元素定量分析”，没有说是粉末，薄膜，还是体材料，要是薄膜，那厚度多少，什么衬底？加速电压，多少。都没讲，而且，似乎有的老师，很信赖机器自身带的什么优化软件。。我从不会说任何机器不好，也不会说谁的软件不好。

只想说，没有进行标准样品校准后的测试结果，都有或多或少的误差，无论是K线还是L线。

那个“优化”咱没用过，没有发言权，不晓得它有多厉害。当然，进行了“优化”之后也许会准确些，但我奉劝新手不要迷信。


需要做最优化不是我的发明。自己不会制造能谱仪，只会一点使用别人制造的能谱仪，就得老老实实听别人的话。这不是迷信是听话，谁让我自己不会造一个不需要最优化的能谱仪。

即便是 测试时，K、L两个线系的数据很相近，也不能说明其测试结果的精确性一定很符合实际真实值。。。，要不咋跟你说是STANDLESS，ZAF，半定量分析嘞。。。
一个单位的能谱仪要取得对外营业的资格是需要进行认证考核的。由考核单位给你一个样品，你测定的能谱结果要在规定的误差范围内才能通过考核。