【求助】EDAX的线扫描问题

首先直接那样计算肯定不行，因为没有考虑ZAF校正；再之线分析不考虑背底的影响，所以即使考虑上ZAF校正，按ZAF wt%的数据类型，也会得出与理想的差很多的数据。关于ZAF校正值，在spectum界面下quant之后给出的数据中有这个校正值。

不好意思 不是很明白
那么 现今 这些数据 怎么转化成 at. % 或者 wt. %呢
非常感谢

这个有点难，毕竟无法知晓其数据库原始数据。你可以先测试该样品的能谱图，在组成变化不大的情况下，其ZAF校正系数相关不大，应用其ZAF校正系数，即每个元素每个强度都乘上对应的ZAF系数，再进行归一处理，可近似得出wt%的结果。这周没空，如果需要的话，下周发个示例给你。

这么说 悲剧了 还得重测？非常感谢

测的时候鼠标放在数据类型上右键，然后可以选择数据类型。
还有，就是保存数据时选择保存成dat文件，这样可以调出元数据的。