【资料】X射线分析深度与样品厚度

如果在所使用仪器的软件中包含有用FP法计算理论强度的模拟功能，就可以方便地对分析所必须的样品厚度进行计算。或者，也可以通过计算半衰减层厚度作为解决这一问题的方法。半衰减层厚度（t_1/2）是指X射线穿过某物质后，其强度衰减至入射时的一半时所对应的物质的厚度。根据朗伯－比尔定律，半衰减厚度可用公式（10.1）表示：




公式中，(μ/ρ)_λ表示物质对波长λ的总质量吸收系数，ρ为物质的密度（g/cm³）。

利用公式（10.1），可根据物质对所测定波长的X射线的质量吸收系数及物质的密度计算半衰减层厚度。样品的厚度可以确定为此半衰减层厚度的3～4倍。但是，实际工作中，常常不能得到物质的密度等所需参数。此时，可以做成表10.3这样的表格，将代表性的物质的半衰减层厚度列于其中，这样就方便多了。使分析不受厚度效应影响的样品厚度值因仪器和测定条件而有所不同，所以最好取表中数值的3～4倍。液体样品以5～10mm为宜。从表10.3可知，对于很多类样品，样品厚度达到几mm就足够了。

另一方面，在树脂中重金属元素的分析中，因元素不同，可能需要几cm的样品厚度。可是，如此厚的样品的制备是不现实的。如果元素含量高，可考虑使用L线代替K线，或使用M线代替L线，使用这些长波长谱线可以消除厚度效应。但是，对于ppm级含量的微量元素分析而言，因灵敏度的原因，必须使用短波长的谱线。此时，在制备样品时，就必须使样品的厚度一致。

此外，在树脂分析中，通过修正样品厚度引起的误差进行定量分析的方法已进行了多方面的研究，也有一些报导。可是，实际分析中常常必须校正共存元素的影响。因数学校正也是有误差的，在制备样品时应尽量避免厚度校正，这有利于减小误差。

厚度影响，是用什么方法校正？

通过称量样品重量，保持样品一致性。

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误差很小，学习了

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