尺寸的控制精度要求真高,话说我还没做过控制颗粒尺寸的,你分散的方法和操作步骤应该相同的吧,颗粒应该不会发生形变吧,不解?
天黑请闭眼(shxie) 发表:一直在做Au的纳米颗粒方面的东西,有个问题一直比较困扰。我的颗粒理论是0.8-1 nm的,粒径分布比较均匀,但是观察时有这么一个问题:如果简单分散到碳膜上(普通碳膜,非超薄),那么颗粒在1.0 -1.1nm左右,但如果分散到纳米线上,悬空观察,则是0.9 nm左右。
后者应该比较可信,因为纳米线有特征晶格条纹做内标。前者应该也可以,是用金标样做过校正的。那么是不是碳膜的厚度影响了纳米颗粒的粒径测量?还是说在分散到纳米线上和分散到碳膜上,颗粒发生了一定的形变?
多谢!