请大家简述一下 X射线荧光光谱分析的特点？

分析元素范围广。一般现代波长色散X射线荧光光谱仪均能测定元素周期表中从铍到铀的80多种元素。

测定元素的含量范围宽。可以从10－6级到100％，若经过预富集的特殊处理，甚至可以测到10－8级的含量。全反射X射线荧光分析的检测下限可达 10－11～10－15 g（或109个原子／cm2）。

适应范围广，有效检出度宽，测试过程快，操作相对简单，容易有效降低测试操作中的人为误差，重现性好。

自动化程度高，分析速度快。对于单道顺序式自动X射线荧光光谱仪，测定一个样品某一个元素的含量，一般只需10～40s，多道同时型X射线荧光光谱仪，则一个样品只需要20～100s就能同时测定多种（最多达48种）元素。

分析试样可以是固体、粉末、液体或晶体、非晶体等不同物理状态的物质，甚至封闭在容器内的气体亦可测定。

X射线荧光光谱分析与试样中一般元素的化学状态无关

由于采用原子的内层电子跃迁产生的K（或L）系特征谱线作元素分析线，因此基本不受元素的化学状态的影响。

而且与可见光谱分析相比，谱线简单，互相干扰少。

对于轻元素，其不同的化学状态会引起谱峰位移，这种现象已被用于某些元素的化学价态分析的研究。