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求助:pe2000DV能用标准加入法吗

ICP光谱

  • 各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教
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  • hezia

    第3楼2006/05/17

    应当可以的,标准加入法与仪器型号没有什么关系的。
    单点法是加入待测物质含量约十倍的已知含量的样品,根据测定结果计算待测物质含量。还可以加入多点作曲线外推求待测物含量。

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  • boon

    第4楼2006/05/17

    估计效果不好!标准加入法很难消除谱线干扰

    xujinling 发表:各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教

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  • 西藏精灵

    第5楼2006/05/17

    基体肯定有影响,不如换其他方法做.

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  • linli774

    第7楼2006/06/26

    当然可以,标准加入法和仪器型号一点关系都没有

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  • damoguyan

    第8楼2006/06/26

    做是可以做的,但标准加入法不能消除基体干扰,特别是谱线重叠干扰,只能消除基体黏度等物理干扰,是一种没多大意义的方法,还比较麻烦!

    xujinling 发表:各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教

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  • 风之灵

    第9楼2006/06/26

    晕,这叫什么说法!谱线重叠如果标准加入法会碰到,难道别的方法如标准曲线法就不会碰到?这个问题是仪器分辨率的问题与方法是两个概念!关于你所说的不能消除基本干扰,难道用纯物质打底就能消除?标准加入法主要就是为了基体不好匹配的情况下采用的一种方法,就是为了消除基本干扰,你用过吗或者说你正确的用过吗?

    damoguyan 发表:做是可以做的,但标准加入法不能消除基体干扰,特别是谱线重叠干扰,只能消除基体黏度等物理干扰,是一种没多大意义的方法,还比较麻烦!

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  • wdd5888

    第10楼2008/01/05

    标准加入法和仪器型号无关,但是高纯金属分析微(痕)量杂质ICP采用这样的方法意义不大,谱线干扰是无法消除的(如果有的话),溶液内基体物质盐含量过大对测量也有很大影响。建议你采用合适的方法分离基体或者富集被测元素

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  • hunk

    第11楼2008/01/06

    如果你的杂质含量比较高--例如1000PPM,用标准加入肯定不会有什么作用的--前处理的误差相对仪器测量要大的多

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  • shaweinan

    第12楼2008/01/06

      你分析的是什么金属,如果是过渡金属或稀土元素,那主要考虑的是谱线重叠干扰。用酸溶了,关键是看怎么溶。分析时不需要更纯的金属进行基体匹配。
      标准加入法确实是最好的一种基体匹配的方式,但必须先消除光谱干扰,其中包括谱线重叠干扰和背景干扰,当然能选到一条没有谱线重叠的分析线最好,但这样做往往不能采用最强线,从而是以牺牲检出限为代价。此外还有一种途径就是利用数学手段进行校正。

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