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不导电样品表面经导电处理后的背散射电子像

  • fengyonghe
    2013/02/12
  • 私聊

扫描电镜(SEM/EDS)

  • 不导电样品表面经导电处理后其内部仍然是不导电的,表面荷电问题解决了,内部荷电问题仍然没有解决。这对背散射电子像和能谱分析会有怎样的影响呢?
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  • asahi42

    第1楼2013/02/13

    这个。。。我的感觉是,因为背散射电子是高能物质波,X射线是能量波,这两个波都很少受到荷电的影响,所以。。。关系不大。

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  • 小M

    第2楼2013/02/16

    应助达人

    内部荷电没有影响,表面荷电可能会有影响。表面荷电容易导致图像漂移,EDS测试点会变动,结果有影响,这是我的理解。

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  • fengyonghe

    第3楼2013/02/17

    哪位有镀金后的背散射电子像?

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  • fengyonghe

    第4楼2013/02/18

    已经镀膜的不导电试样在高压电子的轰击下,注入试样内部的一次电子也不会有样品电流,结果是在样品内部逐渐积累负电荷,负电荷积累到一定程度就会产生与样品成分无关的背散射电子像。所以要想得到已经镀膜的不导电试样的背散射电子像,操作速度一定要快。这是我的看法,你怎么看?

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  • fengyonghe

    第5楼2013/02/22

    划红线的部分算是答案吗,怎么没人回复?

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  • 另一半是孩子

    第6楼2013/02/25

    求高人解答,内部荷电到底对背散射电子相有没有影响

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  • fengyonghe

    第7楼2013/02/26

    没有人能够给出图像吗?是没有注意过吗?

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  • 驰奔

    第8楼2013/02/26

    我注意过这个问题。
    首先,“内部荷电问题”不存在。事实上,在作用区内是导电的,可以理解为绝缘体击穿。既然作用区导电,那么就看哪里可以和作用区导电连接,不一定非得要镀膜,例如非常薄的片子贴在导电的物体上,电子束可以击穿的话,片子不导电,照样看,而不存在表面荷电问题。

    其次,镀膜对背散射或能谱分析影响。
    分为重金属膜和C膜。应该说C膜影响微乎其微。
    重金属膜影响较大。对背散射图像来说,降低平均原子序数反差,看起来灰度差别没有蒸C那么大,还是比较明显。

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  • fengyonghe

    第9楼2013/02/27

    阁下分析得很好,基本上可以这样理解,有一点不明白,表面荷电不能通过击穿导电,而内部可以通过击穿导电,事实是这样只是不好理解。

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  • 驰奔

    第10楼2013/03/01

    导电的样品,不接地照样荷电。

    低真空环境属于气体击穿导电,就把不导电样品表面电荷接地了。

    fengyonghe(fengyonghe) 发表:阁下分析得很好,基本上可以这样理解,有一点不明白,表面荷电不能通过击穿导电,而内部可以通过击穿导电,事实是这样只是不好理解。

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