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ICP光谱干扰之电离干扰与基体效应干扰

依风1986

2013/08/10

由于ICP中试样是在通道里进行蒸发、离解、电离和激发的，试样成分的变化对于高频趋肤效应的电学参数的影响很小，因而易电离元素的加入对离子线和原子线强度的影响比其他光源都要小，但实验表明这种易电离干扰效应仍对光谱分析有一定的影响。对于垂直观察ICP光源，适当地选择等离子体的参数，可使电离干扰抑制到最小的程度。但对于水平观察ICP光源，这种易电离干扰相对要严重一些，目前采用的双向观察技术，能比较有效地解决这种易电离干扰。此外，保持待测的样品溶液与分析标准溶液具有大致相同的组成也是十分必要。例如在岩矿分析中，常用碱溶法或偏硼酸里分解样品，给溶液带来大量的碱金属盐类。任何时候，两者在物理、化学各方面性质的匹配是避免包括电离干扰在内的各种干扰，使之不出现系统误差的重要保证。
基体效应来源等离子体，对于任何分析线来说，这种效应与谱线激发电位有关，但由于ICP具有良好的检出能力，分析溶液可以适当稀释，使总盐量保持在1mg/ml左右，在此稀溶液中基体干扰往往是无足轻重的。当基体物质的浓度达到几mg/ml时，则不能对基体效应完全置之不顾。相对而言，水平观察ICP光源的基体效应要稍严重些。采用基体匹配、分离技术或标准加入法可消除或抑制基体效应

分
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依风1986

第1楼2013/08/10

应助达人

标准加入法算普遍的，只是实际操作中不大合适，样品不能保证基体都是一样，像我们油漆，塑胶，色粉，布料等，还好，我们测试样品不是很复杂，好解决

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abcpgf

第2楼2013/08/11

应助达人

实际做样品量大时，不是很现实，成本这块就不少了。

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依风1986

第3楼2013/08/11

应助达人

是的，大规模采用标准加入法不合适
abcpgf(abcpgf) 发表:实际做样品量大时，不是很现实，成本这块就不少了。

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tang566

第4楼2013/08/14

应助达人

标准加入法烦琐，很多实验室釆用内标法来消除。
依风1986(xurunjiao5339) 发表:是的，大规模采用标准加入法不合适

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chun870605

第5楼2013/08/14

标准加入法是用来搞科研的

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依风1986

第6楼2013/08/14

应助达人

除非真的搞某个样品
tang566(tang566) 发表:标准加入法烦琐，很多实验室釆用内标法来消除。

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依风1986

第7楼2013/08/14

应助达人

单独做某个样品可以仔细搞下
chun870605(justforyou9) 发表:标准加入法是用来搞科研的

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tang566

第8楼2013/08/15

应助达人

针对一两个样品还可以。
依风1986(xurunjiao5339) 发表:除非真的搞某个样品

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依风1986

第9楼2013/08/15

应助达人

单一材质样品还可以应用标准加入法
tang566(tang566) 发表:针对一两个样品还可以。

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守一

第10楼2013/08/15

某次用过标准加入法测得结果会比较高些，不知道啥原因
依风1986(xurunjiao5339) 发表:单一材质样品还可以应用标准加入法

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