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【讨论】X荧光分析矿物熔片法建立曲线中标准样品烧失量的测算方法探讨

  • gj542041105
    2013/09/12
    • 私聊

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • X荧光熔片分析讨论：对于工业生产过程中的烧结矿，其烧失量比原矿少且值不稳定，在没有烧结矿标样时，可采用原矿标准样品建立曲线。首先熔若干空白试剂玻璃片称量，对比空白试剂片的重量A1差异并取平均值，再熔融原矿标样玻璃片称重量A2，以原矿标样玻璃片重量A2减去空白试剂片重量A1得A3，再以原矿标样称样量减去A3之差除以原矿标样称样量即得原矿烧失量。根据原矿标样标准值以各个原矿标样烧失量可换算各个原矿标样烧失之后的成分，接下来重新确定称样量，建立灼烧之后的标准样品工作曲线。此法测出的烧失量更接近熔样机熔片时的温度、时间状态，减少人工分析烧失量受环境湿度影响较大的情况。
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    +关注 私聊

  • hlyhaha

    第1楼2013/09/12

    接下来重新确定称样量，建立灼烧之后的标准样品工作曲线。 这句中,根据什么来重新确定称样量啊??

0
    +关注 私聊

  • hsteel

    第2楼2013/09/12

    这段话有没有出处？

0
    +关注 私聊

  • XRF_INFO

    第3楼2013/09/13

    这是一种熔片方法，熔得是烧过的样品。还有另外一种，熔烘过的样品。

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